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掃描探針顯微鏡(SPM)/原子力顯微鏡
多功能原子力顯微鏡
價(jià) 格:詢價(jià)
產(chǎn) 地:美國(guó)更新時(shí)間:2020-10-29 18:23
品 牌:Anasys Instruments型 號(hào):AFM+
狀 態(tài):正常點(diǎn)擊量:2128
400-006-7520
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聯(lián) 系 人:
上海非利加實(shí)業(yè)有限公司
電 話:
400-006-7520
傳 真:
400-006-7520
配送方式:
上海自提或三方快遞
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產(chǎn)品參數(shù)
主要參數(shù):
平面掃描范圍:<80x80um
平面分辨率:<0.2nm
縱向掃描范圍:>6um
縱向分辨率:<0.2nm
高度噪音:<50pm
載物臺(tái):7mmx9mm,馬達(dá)自動(dòng)控制
工作模式:接觸模式、非接觸模式、敲擊模式
標(biāo)準(zhǔn)模塊:相位、橫向力(摩擦)、力曲線、力調(diào)制、靜電力和磁力模塊
選配模塊:導(dǎo)電力模式,表面電勢(shì)模塊
光學(xué)分辨率:1.5um
光學(xué)顯微鏡最大可視場(chǎng): ~900x600um