日本橫河AQ7410/AQ7410A/AQ7410B光譜分析儀
譚艷飛(總經(jīng)理)——蔣S(特助)
HZ9-AQ7410B是 種基于Michelson干涉原理的高分辨率反射
測(cè)量?jī)x。它均有業(yè)界的 空間分辨
率(在1310及1550nm均可達(dá)到20mm), 在空氣中的測(cè)量距離范
圍高達(dá)2000mm。同時(shí)它具有回波損耗
測(cè)量所需要的 高的動(dòng)態(tài)范圍(10~85dB)。它的掃描速度比以
前提高了兩倍以上。 產(chǎn)品特點(diǎn):
· 高的空間分辨率 空間分辨率為20 ?m @1310 nm 及 1550 n
m · 高掃描速度:36mm/秒
@1310nm波長(zhǎng);43mm/秒@1550nm · 具有回波損耗測(cè)量所需要的高
動(dòng)態(tài)范圍:10~85 dB@1310 nm
10~80 dB@1550 nm · 集成了打印機(jī)可進(jìn)行生產(chǎn)質(zhì)量的控制。
· GPIB接口及命令方便用戶(hù)編制控制軟件進(jìn)行遠(yuǎn)程控制