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JX-2000顆粒圖像測(cè)試儀
價(jià) 格:詢(xún)價(jià)
產(chǎn) 地:四川更新時(shí)間:2020-11-05 14:13
品 牌:成都精新型 號(hào):JX-2000
狀 態(tài):正常點(diǎn)擊量:2902
上海非利加實(shí)業(yè)有限公司
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性能特點(diǎn)
1、 工業(yè)***攝像頭高速采集,光學(xué)顯微鏡放大成像,圖像快速顯示于電腦,直接觀察顆粒形貌,專(zhuān)用軟件進(jìn)行顆粒數(shù)據(jù)處理。
2、 測(cè)量范圍:0.5μm~3000μm
3、 全平場(chǎng)消色差物鏡,***大分辨率0.07微米,***大光學(xué)放大倍數(shù)1600倍,打印***大倍數(shù)4000倍(A4幅面)
4、 提供等面積和等周長(zhǎng)兩種基準(zhǔn)下的個(gè)數(shù)、直徑、面積、體積、圓形度等分布數(shù)據(jù)。同時(shí)提供顆粒數(shù)、D10、D50、D90、平均粒徑、表面積、長(zhǎng)徑比等粒度分布數(shù)據(jù),配有(30)多種圖像分析和處理功能,可以滿(mǎn)足各種圖像處理需要。
5、 對(duì)采集的圖像進(jìn)行調(diào)整高度、寬度、亮度、對(duì)比度、濾波、填充等,提高分析分辨率,網(wǎng)格標(biāo)注顆粒尺寸等功能,使測(cè)試結(jié)果更真實(shí)可靠。
6、 儀器分二種型號(hào),技術(shù)原理、參數(shù)都相同,JX-2000A型顆粒圖像測(cè)試儀配置透射顯微鏡,JX-2000B型顆粒圖像測(cè)試儀配置透反射顯微鏡,后者還可用于陶瓷、金屬等各種不透光物體表面晶形的觀察分析。
產(chǎn)品參數(shù)
測(cè)量范圍:0.5μm~3000μm
全平場(chǎng)消色差物鏡,最大分辨率0.07微米,最大光學(xué)放大倍數(shù)1600倍,打印最大倍數(shù)4000倍(A4幅面)
產(chǎn)品介紹
JX-2000顆粒圖像測(cè)試儀
JX-2000型顆粒圖像測(cè)試儀,能準(zhǔn)確直觀顆粒形貌,并進(jìn)行顆粒數(shù)據(jù)處理,適用于控制分析產(chǎn)品質(zhì)量。該系統(tǒng)由光學(xué)顯微鏡、USB攝像機(jī)、圖像分析軟件、電腦、打印機(jī)等部分組成。適用于石墨、磨料、陶瓷、碳化硅、硅灰石、金剛石、碳粉、藥粉、涂料、水泥、硬質(zhì)合金、催化劑、云母粉、填料等各種粉末物料顆粒的形貌觀察和粒度分析。