Duma 光束質(zhì)量分析儀Beam on
價 格：詢價
產(chǎn) 地：俄羅斯更新時間：2020-10-30 13:47
品 牌：屹持光電技術(shù)型 號：Beam on
狀 態(tài)：正常點擊量：1221
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Duma光束質(zhì)量分析儀
DumaDuma Optronics 公司于1989年成立于以色列，是******專業(yè)從事激光光束自動化測量系統(tǒng)研發(fā)和生產(chǎn)的公司。其生產(chǎn)的光束質(zhì)量分析儀產(chǎn)品類型豐富，功能全面。
提供了兩種技術(shù)的光束質(zhì)量分析儀：CCD式（BeamOn系列）和刀口式（Beam Analyzer系列）。
CCD式光束質(zhì)量分析儀：
高分辨率：
高分辨率激光光束質(zhì)量分析儀（1.4M像素）帶有電動光學(xué)濾波輪組（軟件或者ActiveX控制）。具有12位的動態(tài)范圍，能對連續(xù)光和脈沖光的形狀，位置，功率等光束特性進行全方位測量。USB2.0接口，Duma可提供***系列的測量配件，集成的電動濾波輪和三片衰減片，通過濾波輪軟件自動調(diào)節(jié)，可測量從nW到1W不同強度的激光。
專利技術(shù)：
Duma的CCD光束質(zhì)量分析儀是***種既可以測量連續(xù)光也可以測量脈沖光的光束質(zhì)量診斷設(shè)備。具備光束寬度，光束形狀，位置，功率，強度分布等多種參數(shù)測試能力。使用USB2.0數(shù)據(jù)且可以用軟件控制。通多控制衰減片的倍數(shù)多次測量，可以突破動態(tài)范圍的限制來精確測量大的動態(tài)范圍的激光束。這種專利技術(shù)可以測量相對于***強點1%的功率動態(tài)范圍分布，這種技術(shù)可測量功率密度***強點到***弱點。
亞微米：
亞微米***別光束質(zhì)量分析儀為亞微米***別光斑提供了光束分析和圖形處理功能。主要應(yīng)用于CD唱頭，激光二極管，唱頭透鏡和光學(xué)元件調(diào)整，小直徑光束，以及任何需要光束測量的系統(tǒng)。
產(chǎn)品參數(shù)
刀口式光束質(zhì)量分析儀
獨特的，最先進的專利技術(shù)在不同的交叉角和不同的交叉面對光束空間強度進行斷層重建從而測量光束質(zhì)量。提供了高分辨率光束直徑和剖面測量，并能夠顯示光束功率分布的二維和三維視圖。
優(yōu)點：
高動態(tài)范圍，高分辨率
實時測量能有效控制光束質(zhì)量
紫外，可見，近紅外寬光譜測量
獨特功能
無像差掃描式光學(xué)衰減器可測量高功率大動態(tài)范圍光束
工業(yè)解決方案—尺寸小
12位A/D轉(zhuǎn)換器，可實現(xiàn)高分辨率采樣
數(shù)據(jù)通過RS232或者TCP/IP與轉(zhuǎn)換器連接。
產(chǎn)品介紹
產(chǎn)品系列包含：
光斑分析儀，光束質(zhì)量分析儀型號：
BeamOn WSR UV-NIR (190-1600nm)
BeamOn WSR
BeamOn HR
BeamOn
BeamOn U3
BeamOn 2/3
BeamOn LA
BeamOn Longbow
Beam Analyzer
Beam Analyzer Touch
M2 Beam
uBeam
高功率光斑分析系統(tǒng)型號：
M2 HP - 4 kW
uBeam HP
Beam Analyzer HP
BeamOn HP
位敏探測系統(tǒng)型號：
SpotOn USB 2.0
SpotOn Analog USB
SpotOn Analog
SpotOn LA
SpotOn Mobile
SpotOn Compact
SpotOn CCD
LaserOn
激光準(zhǔn)直儀型號：
AlignMeter USB
Electronic Autocollimator
Electronic Autocollimator HR
Laser Analyzing Autocollimator
Laser Analyzing Telescope
AngleMeter LA
AlignMeter LA
滬公網(wǎng)安備31011502016460號
