OPX/CPX納米劃痕儀(Nano Scratch Tester)
價(jià) 格:詢價(jià)
產(chǎn) 地:瑞士更新時(shí)間:2020-10-26 14:59
品 牌:CSM型 號(hào):OPX/CPX
狀 態(tài):正常點(diǎn)擊量:2698
400-006-7520
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上海非利加實(shí)業(yè)有限公司
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配送方式:
上海自提或三方快遞
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特點(diǎn)
金剛石劃痕針頭
光學(xué)顯微鏡自動(dòng)控制觀測(cè)
閉環(huán)載荷反饋控制
劃痕深度測(cè)量
完全符合工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)ASTM,D7187
產(chǎn)品介紹
選件
多種劃痕針頭選擇
納米或微米硬度測(cè)量模塊
真空、濕度與溫度控制
集成原子力顯微鏡或共焦顯微鏡三維成像
納米劃痕測(cè)試儀(10uN - 1N)
瑞士CSM的納米劃痕儀主要用于界定膜基結(jié)合強(qiáng)度與薄膜抗劃痕強(qiáng)度,適用的薄膜厚度***般低于800納米。納米劃痕儀可以用于多種薄膜材料的檢測(cè)分析,例如單層或多層PVD、CVD、PECVD薄膜,感光薄膜,彩繪釉漆,光學(xué)薄膜,微電子鍍膜,保護(hù)性薄膜,裝飾性涂層等等。基體可以為軟質(zhì)或硬質(zhì)材料,包括金屬、合金、半導(dǎo)體、玻璃、礦物、以及有機(jī)材料等。