美國SCI Filmtek 1000薄膜測厚儀
價 格：詢價
產 地：美國更新時間：2020-10-23 11:13
品 牌：SCI型 號：Filmtek 1000
狀 態(tài)：正常點擊量：1706
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測量功能
FilmTek 1000/1500將SCI的廣義材料模型與先進的全局優(yōu)化算法結合在***起，以便同時測定下列薄膜常數：
多層膜厚
折射系數 [ n(λ) ]
消光 [ k(λ) ]
低成本
FilmTek 1000/1500的價格是同類儀器相比更具競爭力
軟件
FilmTek 1000的測量分析軟件，無須薄膜光學設計或測量技術方面的經驗。
產品參數
測量參數 | FilmTek? 1000 / 1500 |
Index of Refraction(at 2μm thickness) 折射率（2μm厚度時） | ±0.005 |
Thickness Measurement Range 膜厚范圍 | 10nm-200μm |
Spectral Range (nm) 光譜范圍 | 380-1000 |
Reflection 反射 | Yes |
Transmission 透射 | Yes (1500) |
Power Spectral Density | Yes |
Multi-layer thickness | Yes |
Index of Refraction | Yes |
Extinction (absorption) Coefficient | Yes |
選購可在標準型的基礎上拓展 |
產品介紹
美***SCI Filmtek 1000薄膜測厚儀
FilmTek 1000系列是***種精確和負擔得起的解決方案，用于薄膜厚度和折射率的常規(guī)測量。它將光纖分光光譜儀與直觀、高性能的材料建模軟件相結合，使日常測量任務更加可靠、簡單。
FilmTek 1000的配置包括***個小的光斑，配備手動或可選的自動XY平臺，以適應75-300毫米晶圓尺寸。FilmTek 1500可以測量透射和反射方式測量，是透明襯底的理想之選。
FilmTek軟件包括完全用戶定制的映射功能，可以快速生成任何測量參數的2D和3D數據映射。除了用戶定義的模式外，標準模式還包括極模式、x-y模式、rθ模式或線性模式。
滬公網安備31011502016460號
