美國(guó)必達(dá)泰克光學(xué)反射率儀
價(jià) 格:詢價(jià)
產(chǎn) 地:美國(guó)更新時(shí)間:2020-10-29 16:46
品 牌:必達(dá)泰克型 號(hào):
狀 態(tài):正常點(diǎn)擊量:1021
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1. 512元線性PDA陣列光譜儀,16位AD,USB2.0接口
2. 特殊半透鏡專利技術(shù),能高效收集試樣表面反射光,避免底部反射光影響,提高測(cè)試精度
3. ***大限度的提高光纖到狹縫的能量利用效率
4. 外置式探頭可選,更方便的用于大面積、高曲率、現(xiàn)場(chǎng)特殊環(huán)境監(jiān)測(cè)
產(chǎn)品參數(shù)
檢測(cè)范圍:350-1050nm
光斑尺寸:50um
樣品曲率半徑:-1R~-∞ ,:+1R~+∞
重現(xiàn)性:±0.01%
光學(xué)分辨率:3.5nm
測(cè)量時(shí)間:3-65535ms
產(chǎn)品介紹
精確檢測(cè)光學(xué)鏡片等表面鍍膜物質(zhì)反射率的理想選擇。內(nèi)建光源,專用三維樣品臺(tái),顯微聚焦功能和精確頂點(diǎn)定位機(jī)制。標(biāo)準(zhǔn)USB2.0/1.1接口,專用反射率檢測(cè)軟件
既可適合小面積曲面和平面樣品反射率檢測(cè),又有外接探頭選項(xiàng)可以現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)大面積高曲率等特殊界面。