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OMS材料物理光學(xué)屬性測量儀
價(jià) 格:詢價(jià)
產(chǎn) 地:美國更新時(shí)間:2020-10-26 18:24
品 牌:津發(fā)科技型 號(hào):OMS
狀 態(tài):正常點(diǎn)擊量:2608
上海非利加實(shí)業(yè)有限公司
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OMS材料物理光學(xué)屬性測量儀,用于測量光學(xué)材料表面BRDF光學(xué)屬性以及材料體光學(xué)屬性,測量出的數(shù)據(jù)經(jīng)過OMS2數(shù)據(jù)處理軟件的擬合,得出.BRDF格式的文件,這些文件都攜帶了材料的表面光學(xué)屬性和體光學(xué)屬性。這些數(shù)據(jù)文件可在OMS2支持軟件中直接讀取,在OMS2支持軟件的協(xié)助下完成雜散光仿真分析處理。***內(nèi)外用戶有拜爾材料、洛克希德馬丁、NASA、三星、LG、航天508所、中航工業(yè)上海航空電器有限公司等。
產(chǎn)品參數(shù)
(1)材料表面光學(xué)屬性BRDF
a. 材料BRDF點(diǎn)陣數(shù)據(jù)
在使用OMS2測量材料時(shí),儀器中的光電倍增管(PMT)在2π空間內(nèi)接受樣品反射以及透射的光能量數(shù)據(jù),因此測量后會(huì)得到離散型的點(diǎn)陣數(shù)據(jù)。
b. 材料BRDF文件數(shù)據(jù)
離散型數(shù)據(jù)直接被使用于軟件仿真并不精確,所以所得的離散型數(shù)據(jù)必須經(jīng)過數(shù)據(jù)處理才可使用,OMS2系統(tǒng)的工作站中帶有由OPTIS研發(fā)出來的數(shù)據(jù)處理系統(tǒng),經(jīng)過OMS2數(shù)據(jù)處理軟件的數(shù)據(jù)擬合、處理可得出精確的可直接使用.BRDF格式的文件
結(jié)果中可以查看光的不同入射角度,以及不同波長時(shí),光在材料表面反射、吸收的參數(shù),并且還可查看反射的光型。
(2)OMS2數(shù)據(jù)處理軟件
OMS2數(shù)據(jù)處理軟件內(nèi)含有OPTIS大量材料屬性數(shù)據(jù)庫,可對采集到的離散型數(shù)據(jù)進(jìn)行處理擬合,生成.BSDF格式的材料面光學(xué)屬性文件,以及.Material格式的材料體光學(xué)屬性文件。生成的材料光學(xué)屬性文件可在OMS2支持軟件中使用。