光學膜厚測量儀
價 格:詢價
產(chǎn) 地:更新時間:2021-01-15 17:58
品 牌:型 號:ST2000/ST4000/ST5000/ST6000/ST7000
狀 態(tài):正常點擊量:1972
400-006-7520
聯(lián)系我時,請說明是在上海非利加實業(yè)有限公司上看到的,謝謝!
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上海非利加實業(yè)有限公司
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上海自提或三方快遞
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1) 因為是利用光的方式,所以是非接觸式,非破壞式,不會影響實驗樣品。
2) 可獲得薄膜的厚度和 n,k 數(shù)據(jù)。
3) 測量迅速正確,且不必為測量而破壞或加工實驗樣品。
4) 可測量 3層以內(nèi)的多層膜。
5) 根據(jù)用途可自由選擇手動型或自動型。
6) 產(chǎn)品款式多樣,而且也可以根據(jù)顧客的要求設(shè)計產(chǎn)品。
7)可測量 Wafer/LCD 上的膜厚度 (Stage size 3“ )
8)Table Top型, 適用于大學,研究室等