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~ 樣品體積LxWxH：300 x ∞ x 150 mm 500 x ∞ x 48 mm
~ 樣品尺寸 LxW：105 x 105 mm Ø 300 mm 500 x 500 mm
~ 接觸角測量范圍：0 to 180 °C，分辨率：+/- 0.1 °C
~ 表面張力測量范圍：1x10-2 to 100 mN/m；分辨率：0.1 mN/m
~ 光學(xué)系統(tǒng)：7-fold Zoom；視野范圍FOV 3.2 to 22.5 mm 1.6 to 11 mm diagonal；光漂離
補(bǔ)償；聚焦模塊；高性能的可變視野照明；自動偏離效正
~ 攝像系統(tǒng)：50 楨 360 or 1000 fp/s optional；Online max. 100 evaluations / second；
Video sequences duration depending on RAM；軟件自動觸發(fā)計算和攝像
~ 軟件：6種不同的方法分析座滴形態(tài)，自動基線調(diào)整，接觸角測量范圍在 0 to 180 °C，可選
擇曲面基線。垂滴方法計算液體的表面/界面張力，錄像，程序設(shè)定，自動進(jìn)樣設(shè)定，通過
Fowkes,extended Fowkes, Wu, Zismann, Owens-Wendt-Rabel, van Oss & Good, Neumann等
方法計算固體的表面自由能，濕潤性等…
~ 溫度范圍：-60 to 400 °C
~ 儀器尺寸 LxWxH：380 x 620 x 610 mm 380 x 954 x 610
~ 重量：25 to 45 kg
~ 電壓：110 to 240 VAC

測量方法：
~ Sessile & Captive Drop Method staticdynamic
~ Tilting Drop Method
~ Sessile Drop Method

選件：
~ DS3201 - 手動直接進(jìn)樣用于十分困難測量樣品
~ DS3210 - 軟件控制的直接進(jìn)樣
~ DS3202 - The fastest solution for reproducible volumes: The manual direct jet
dosing system
~ DS3228 - PC控制的多滴定系統(tǒng)，*多可達(dá)8個進(jìn)樣頭
~ TC40 - The peltier temperature chamber for highest demands. The KRÜSS peltier
chamber is characterized by very fast temperature changes, no
condensation problem at windows due to 2 separate innerouter
housingsmovable inner sample stage.
~ ST3270 - Both manualelectronic wafer stages are available. They can be
integrated in DSA100DSA100L.
~ TC21 - 大的溫度控制工作臺

~ 獨特的液滴觀測角的調(diào)正技術(shù)，隨時可以觀測液滴的形態(tài)，操作就象兒童游戲***樣的簡單。
~ 進(jìn)樣系統(tǒng)的微調(diào)功能可以僅僅調(diào)整進(jìn)樣器的位置。
~ 智能化的進(jìn)樣系統(tǒng)，樣品更換更加簡單，完全避免了樣品間相互交叉污染的危險。
~ 創(chuàng)新的光學(xué)結(jié)構(gòu)的設(shè)計，即使很大的樣品也可以輕松地在標(biāo)準(zhǔn)樣品臺上測量。
~ 新型的照明系統(tǒng)消除所有雜散光的干擾。
~ 創(chuàng)新的軟件設(shè)計支持用戶在任何時間都可以運行事先設(shè)定好的程序或模塊。
~ 個性化的樣品臺，隨意調(diào)整，不同的加熱/制冷工作臺，可以滿足不同條件的特殊樣品的要求。
~ 新型的 Peltier 溫控室， 自動溫度調(diào)節(jié)快速，精確。
~ 照明系統(tǒng)，提供強(qiáng)的光能量，極低的熱輻射。
~ 完全模塊設(shè)計, 可以全手動或全自動調(diào)節(jié)固體樣品的位置
~ 手動或自動測量多達(dá)8個樣品
~ 使用DSA100L，使大的樣品測量異常簡單

應(yīng)用：
~ 評價表面處理程度
~ 考察粘膠特性
~ 表面純度考核
~ 紡織行業(yè)印染的*佳化選擇
~ 晶片及微電子產(chǎn)品的質(zhì)量控制