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德國超聲波掃描顯微鏡KSI V400E

價  格:詢價

產(chǎn)  地:更新時間:2021-01-18 11:53

品  牌:型  號: V-400E

狀  態(tài):正常點擊量:2684

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上海非利加實業(yè)有限公司

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安賽斯(中***)有限公司---檢測設(shè)備優(yōu)質(zhì)供應(yīng)商

產(chǎn)品標(biāo)簽:超聲波掃描顯微鏡,超聲掃描顯微鏡,聲掃顯微鏡,超聲C掃描系統(tǒng) 



超聲波掃描顯微鏡是利用超聲波對微觀物體進(jìn)行成像的無損檢測設(shè)備??蓪Ω鞣N材料、元器件內(nèi)部缺陷、空洞、氣泡、分層缺陷、雜質(zhì)、裂紋進(jìn)行非破壞性檢測;還可進(jìn)行涂鍍層結(jié)合質(zhì)量,內(nèi)部焊接質(zhì)量,鍵合層缺陷等檢測、空洞率計算等。 

 

超聲波掃描顯微鏡應(yīng)用領(lǐng)域:

  • 半導(dǎo)體電子行業(yè):半導(dǎo)體晶圓片、封裝器件、大功率器件IGBT、紅外器件、光電傳感器件、SMT貼片器件、MEMS;

  • 材料行業(yè):復(fù)合材料、鍍膜、電鍍、注塑、合金、超導(dǎo)材料、陶瓷、金屬焊接、摩擦界面等;

    生物醫(yī)學(xué):活體細(xì)胞動態(tài)研究、骨骼、血管的研究等

超聲波掃描顯微鏡在失效分析中的應(yīng)用:

  • 晶圓面處分層缺陷

  • 錫球、晶圓、或填膠中的開裂

  • 晶圓的傾斜

  • 各種可能之孔洞(晶圓接合面、錫球、填膠等)

超聲波顯微鏡的在失效分析中的優(yōu)勢:

  • 非破壞性、無損檢測材料或IC芯片內(nèi)部結(jié)構(gòu)

  • 可分層掃描、多層掃描

  • 實施、直觀的圖像及分析

  • 缺陷的測量及缺陷面積和數(shù)量統(tǒng)計

  • 可顯示材料內(nèi)部的三維圖像

  • 對人體是沒有傷害的

  • 可檢測各種缺陷(裂紋、分層、夾雜物、附著物、空洞、孔洞等)


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V-400E、V-700E、V-1000E單探頭超聲波掃描顯微鏡

 

  • -該型號超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)是實驗室、研發(fā)和工業(yè)生產(chǎn)線主流機(jī)型。

  • - 掃描速度可達(dá):2000mm/s

  • - 與其它品牌機(jī)型相比掃描效率高30%

  • - *小掃描范圍:200μm×200μm

  • - 射頻帶寬:500MHz

  • - 新型FCT防誤判探頭


    V-duo、V-quatrro、V-Octo多探頭超聲波掃顯微鏡


    • 多探頭超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng),同時使用2只、4只或8只換能器

    • - 掃描速度:2000      mm/s

    • - 與其它品牌相比掃描效率高30%

    • - *小掃描范圍:200μm×200μm

    • - 帶寬:550MHz

    • - 新型換能器


    Nano型高分辨率表層缺陷超聲波掃描系統(tǒng)

    它是聲學(xué)顯微成像系統(tǒng)和光學(xué)顯微成像系統(tǒng)的完美結(jié)合。

    - 換能器頻率范圍:100MHz――2000MHz頻率實現(xiàn)高分辨率
    -
    探測深度<100nm
    -
    特殊平均模式使信噪比更好
    -
    同步光學(xué)成像和超聲波成像使樣品在結(jié)構(gòu)上、生物化學(xué)性能上和機(jī)械性能上具有關(guān)聯(lián)性。
    -
    光聲效應(yīng)增強(qiáng)了對比性
    -
    放大倍數(shù):1000
    -
    入射光顯微鏡和倒置光學(xué)顯微鏡可調(diào)節(jié)

     

     





     



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     產(chǎn)品標(biāo)簽:超聲波掃描顯微鏡,超聲掃描顯微鏡,聲掃顯微鏡,超聲C掃描系統(tǒng)



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    德***微焦點X射線成像系統(tǒng) X光機(jī) Y.Cheetah



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