日本JEOL 電子探針顯微分析儀
價(jià) 格：詢價(jià)
產(chǎn) 地：更新時(shí)間：2021-01-18 15:00
品 牌：型 號(hào)：JXA-8230
狀 態(tài)：正常點(diǎn)擊量：1907
400-006-7520
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日本JEOL 電子探針顯微分析儀 JXA-8230
可以安裝通用性強(qiáng)、使用方便的能譜儀X射線探測(cè)器，組合使用WDS和EDS，能提供無縫、舒適的分析環(huán)境。
產(chǎn)品規(guī)格：
| 檢測(cè)元素范圍 | WDS：(Be)*1 /B～U, EDS：B～U |
| X射線檢測(cè)范圍 | WDS檢測(cè)的波長范圍: 0.087～9.3nm,
EDS EDS檢測(cè)的能量范圍: 20keV |
| 分光譜儀數(shù)量 | WDS: 1～5道可選、EDS: 1臺(tái) |
| 樣品尺寸 | 100mm × 100mm × 50mm（H） |
| 加速電壓 | 0～30kV（以0.1 kV為步長） |
| 束流電流范圍 | 10-12 ～ 10-5 A |
| 束流電流穩(wěn)定度 | 5%/h, ±0.3%/12h（W） |
| 二次電子分辨率 | 6nm（W）, 5nm（LaB6）*2
（W.D. 11mm, 30kV） |
| 掃描倍率 | ×40 ～ ×300,000（W. D. 11mm） |
| 掃描圖像分辨率 | 5,120× 3,840 |
| 彩色顯示器 | EPMA分析用: LCD 1,280 × 1,024
SEM操作、 EDS分析用: LCD 1,280 × 1,024 |
| 光學(xué)顯微鏡 | |
| 分辨率 | ～1um |
| 焦深 | 1um |
| 真空系統(tǒng) | 機(jī)械泵、分子泵、離子泵 *2 |
| 真空度 | 樣品室: 優(yōu)于8.0 x 10-4Pa,
電子槍: 優(yōu)于9.0 x 10-5Pa |
產(chǎn)品特點(diǎn)：
· 可以安裝通用性強(qiáng)、使用方便的能譜儀X射線探測(cè)器，組合使用WDS和EDS，能提供無縫、舒適的分析環(huán)境。
· 日本電子新開發(fā)出的EPMA （電子探針）秉承近半個(gè)世紀(jì)的EPMA的發(fā)展歷史，JXA-8230具備用戶友好的操作、通過新式簡(jiǎn)單易用的PC 用戶界面提供完整范圍的高精度、快速分析，這是JEOL長年來對(duì)高可靠性硬件不斷改良的結(jié)果。JXA-8230電子探針是下***代能完全滿足多種需求的強(qiáng)力分析工具。
·
· EPMA快速啟動(dòng)
· 點(diǎn)擊任何***點(diǎn)，就能開始預(yù)設(shè)的EDS定性、定量分析或WDS分析。
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· 用戶菜單（User recipes）
· 能保存或調(diào)用經(jīng)常使用的各種不同類型的樣品分析條件，菜單中包括了全部的電子光學(xué)參數(shù)、EDS和WDS參數(shù)在內(nèi)。
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·
· EDS 的性能
· 數(shù)字化脈沖處理器
· 全譜面分布(WD/ED, 樣品臺(tái)和電子束掃描)
· 無風(fēng)扇SDD (選配)
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滬公網(wǎng)安備31011502016460號(hào)
