Phenom LE ――性能優(yōu)越的飛納臺式場發(fā)射掃描電鏡
秉承飛納臺式電鏡系列全自動操作、快速成像、不噴金觀看絕緣體、完全防震、性能穩(wěn)定的特點,經(jīng)過精心的設(shè)計,臺式掃描電鏡領(lǐng)軍制造商荷蘭飛納公司推出了臺式場發(fā)射掃描電鏡 Phenom LE,將臺式電鏡的分辨率提升至優(yōu)于 2.5nm@15kV。
Phenom LE ――電鏡能譜***體化設(shè)計
Phenom LE 飛納臺式場發(fā)射電鏡采用熱場發(fā)射電子源,信噪比高,使用壽命長,保證長期穩(wěn)定的性能。飛納臺式場發(fā)射掃描電鏡能譜***體機標配背散射電子成像、二次電子電子成像和能譜分析功能,可對各種樣品進行高分辨成像及元素分析。
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飛納臺式場發(fā)射掃描電鏡 Phenom LE
產(chǎn)品參數(shù)
光學(xué)顯微鏡:放大 20-135 倍
電子顯微鏡:200-500,000 倍
探測器:背散射電子探測器;二次電子探測器;能譜探測器
電子源:肖特基場發(fā)射電子源
分辨率:優(yōu)于 2.5 nm @ 15kV
放置環(huán)境:采用專業(yè)防震設(shè)計,可擺放于普通實驗室或辦公室、廠房
加速電壓:2kV-15kV 連續(xù)可調(diào)
抽真空時間:小于 15 秒
探測元素范圍:B(5)- Am(95)號元素
能譜探測器:硅漂移探測器(SDD);電制冷 (無液氮)
復(fù)納科學(xué)儀器 (上海) 有限公司 (Phenom-Scientific),負責飛納臺式掃描電鏡在中***市場的推廣和銷售,提供專業(yè)的技術(shù)支持和測試服務(wù),飛納中***擁有*專業(yè)的服務(wù)團隊,提供優(yōu)化的解決方案;飛納中***提出飛納學(xué)校 (Phenom University)的概念,為用戶提供從掃描電鏡基礎(chǔ)理論到 Level 5 應(yīng)用工程師的進階培訓(xùn),在上海、北京、廣州設(shè)立了測試中心和售后服務(wù)中心,目前飛納在中***已經(jīng)擁有超過 1000 名用戶。