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應(yīng)力雙折射測量儀

PA-200高速應(yīng)力雙折射測量儀

應(yīng)力雙折射測試儀器簡介：

應(yīng)力雙折射儀，能夠快速、精確測量雙折射相位差及其空間分布和方向。廣泛應(yīng)用于玻璃、晶體、聚合物薄膜、鏡片、晶片等質(zhì)量分析和控制領(lǐng)域。

應(yīng)力雙折射測試儀器主要產(chǎn)品分四部分：

• n 光子晶體光學(xué)元件；

• 雙折射和相位差評(píng)價(jià)系統(tǒng)；

• 膜厚測試儀；

• 偏振成像相機(jī)。

『相位差』『雙折射』『內(nèi)部應(yīng)力』測量裝置 WPA/PA系列

• 快速定量測量透明材料和薄膜2維平面內(nèi)的相位差、雙折射和內(nèi)部應(yīng)力應(yīng)變分布

PA/WPA系統(tǒng)特點(diǎn)：

• 操作簡單/快速測定：獨(dú)特的偏振成像傳感器進(jìn)行簡單的和快速的操作即可測量相位差的分布

• 2D數(shù)據(jù)的多方面分析功能：二維數(shù)據(jù)的強(qiáng)大分析功能，能夠直觀解釋被測樣品的特性。

• 相位差測試能力（WPA系列）：通過對三組不同波長的測量數(shù)據(jù)進(jìn)行計(jì)算，WPA系統(tǒng)可以測量出幾千nm范圍內(nèi)的相位差。

高速雙折射測量 PA-200，PA-200-L

        低相位差（如玻璃）的全面測試 

        針對相位差差別比較小的樣品，要求測量速度高的應(yīng)用，專門開發(fā)了PA系列的產(chǎn)品，測量速度快是核心。廣泛應(yīng)用于玻璃、晶體、聚合物薄膜、鏡片、晶片等質(zhì)量分析和控制領(lǐng)域。

高速雙折射測量產(chǎn)品特點(diǎn)：

     曲線圖功能

    CSV格式輸出

    軸相位差顯示

    縮放鏡頭功能

l 用于低相位差樣品測試的標(biāo)準(zhǔn)系統(tǒng)。

l 適用于檢測玻璃的應(yīng)力或者透明晶片（如藍(lán)寶石、SiC和GaN）的內(nèi)部缺陷。

PHL高速雙折射測量技術(shù)參數(shù)：

高速雙折射測量應(yīng)用領(lǐng)域：

玻璃，顯示組件，注塑塑料件，拉伸纖維，光纖器件，微影手提袋，鏡片毛坯，鏡片，硅片，礦產(chǎn)，激光晶體，液態(tài)晶體，雙折射晶體等。