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Semilab SE1000 全光譜橢偏儀
價 格:詢價
產(chǎn) 地:更新時間:2021-01-18 16:44
狀 態(tài):正常點(diǎn)擊量:2141
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SE1000 全光譜橢偏儀
(TABLE TOP SPECTROSCOPIC ELLIPSOMETER)
SEMILAB 光譜型橢偏儀是多功能薄膜測試系統(tǒng),適合各種薄膜材料的研究。
產(chǎn)品描述
SE-1000型橢偏儀采用手動變角裝置來設(shè)定測試的入射角,樣品臺也采用手動方式,在測試的準(zhǔn)確性和靈活性與SE-2000保持***致的情況下,為客戶提供了***款極具競爭力的橢偏測試設(shè)備。另***方面,SE-1000型全光譜橢偏儀采用了*新設(shè)計的光學(xué)部件以及*新版本的測試分析軟件(SAM/SEA),極大地提高了設(shè)備的運(yùn)行穩(wěn)定性和數(shù)據(jù)處理能力。
與SE-2000平臺***樣,SE-1000全光譜橢偏儀同時也是***個多功能測試平臺,采用模塊化的設(shè)計,可集成FTIR紅外光譜測試模組、渦電流法非接觸式或4PP接觸式方塊電阻測試模組、Mueller Matrix各項(xiàng)異性材料測試模組、Raman結(jié)晶率測試模組、電子遷移率表征模組、LBIC光誘導(dǎo)電流測試模組、反射干涉測試模組等多種功能,用戶可根據(jù)測試需求合理選擇搭配功能。
產(chǎn)品特點(diǎn)
業(yè)界標(biāo)準(zhǔn)測試機(jī)構(gòu)定標(biāo)設(shè)備,參與發(fā)布中華人民共和***橢圓偏振測試技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)
針對研發(fā)及實(shí)驗(yàn)室測試設(shè)計,能降低測試成本
模塊化設(shè)計,可綜合監(jiān)控樣品光學(xué)和電學(xué)特性
定期免費(fèi)升***SOPRA材料數(shù)據(jù)庫
開放光學(xué)模型擬合分析過程,方便用戶優(yōu)化測試菜單
主要應(yīng)用
光伏行業(yè):薄膜電池透明導(dǎo)電膜、非晶硅微晶硅薄膜電池、CIGS薄膜電池、CdTe薄膜電池、有機(jī)電池、染劑敏感太陽能電池
半導(dǎo)體行業(yè):High-K、Low-K、金屬、光刻工藝、半導(dǎo)體鍍膜工藝、外延工藝
平板顯示行業(yè):TFT、OLED、LTPS、IGZO、彩色濾光片
光電行業(yè):光波導(dǎo)、減反膜、III-V族器件、MEMS、溶膠凝膠
主要技術(shù)指標(biāo)
手動變角范圍:45°-75°(*小步進(jìn)5°)
光譜范圍:245-990nm
樣品尺寸: 200mm
厚度測量范圍:0.01nm-50um(取決于樣品類型)