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光子晶體探測器型橢偏儀

價  格：詢價

產(chǎn)  地：更新時間：2021-01-18 16:45

品  牌：型  號：ME-210/110

狀  態(tài)：正常點擊量：2059

400-006-7520
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上海非利加實業(yè)有限公司

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北京飛凱曼公司提供光子晶體探測器型橢偏儀。這種光子晶體探測器型的橢偏儀是有日本Photonic Lattice公司***創(chuàng)，并應(yīng)用到橢偏儀的測試中。日本Photonic Lattice公司在光子晶體的研究和制造領(lǐng)域世界，由此開發(fā)出的光子晶體探測器型橢偏儀具有測試速度快、測量準(zhǔn)確、免維護、價格低廉等特點已經(jīng)在光學(xué)薄膜、半導(dǎo)體薄膜、有機薄膜等領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用。該橢偏儀可快速準(zhǔn)確測量薄膜的厚度和折射率的分布。

相比傳統(tǒng)的光譜型橢偏儀，光子晶體探測器型橢偏儀避免了探測器的機械運動。使得測試速度更快、測試更加準(zhǔn)確、成本更加低廉。

ME-210型光子晶體探測器型橢偏儀特點：

1）  可用于8英寸樣品的3D快速成像

2）  可用于厚度差異小于1nm以內(nèi)的薄膜的快速和高精度成像

3）  超高速測量，速度可達20000點/分鐘

4）  超高分辨率的測量，*小面積可達50um2

5）  可進行透明基底上的薄膜的測試

技術(shù)規(guī)格：

型號

ME-210/110


重復(fù)性精度

0.1nm（厚度）, 0.001（折射率）

測量速度

每分鐘1000個點以上

光源

636nm 半導(dǎo)體激光器

測量點尺寸

0.5mm2


入射角

70度

樣品尺寸

8英寸（可選12英寸）


儀器尺寸和重量

650x650x1740mm/120kg


數(shù)據(jù)接口

千兆以太網(wǎng)（攝像機信號），RS-232C

電源

AC100-240V（50/60Hz）

軟件

SE-View

 

詳細信息請咨詢我們。

010-57034898，13426411645  info@pcm-bj.com  QQ1606737747 



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