ESS03 波長掃描時式 多入射角光譜橢偏儀
價 格:詢價
產(chǎn) 地:更新時間:2021-01-18 16:45
品 牌:型 號:ESS03
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ES0S3是針對科研和工業(yè)環(huán)境中薄膜測量領域推出的波長掃描式高精度多入射角光譜橢偏儀,此系列儀器的波長范圍覆蓋紫外、可見、近紅外、到遠紅外。
ESS03采用寬光譜光源結(jié)合掃描單色儀的方式實現(xiàn)高光譜分辨的橢偏測量。
ESS03系列多入射角光譜橢偏儀用于測量單層和多層納米薄膜的層構(gòu)參數(shù)(如,膜層厚度、表面微粗糙度等)和光學參數(shù)(如,折射率n、消光系數(shù)k、復介電常數(shù)ε等),也可用于測量塊狀材料的光學參數(shù)。
ESS03系列多入射角光譜橢偏儀尤其適合科研中的新品研發(fā)。
技術(shù)特點: