Sphere3000是***套全波長顯微球面光學(xué)元件光譜分析儀,能快速準(zhǔn)確地測量各類球面/非球面器件的相對/絕對反射率。適用于凸透鏡、凹透鏡、鏡片等的鍍膜反射率測量。還可進(jìn)行有干涉條紋的單層膜厚或折射率測量。
Sphere3000球面光學(xué)元件反射率顯微檢測儀-特點:
顯微測定微小領(lǐng)域的反射率 物鏡對焦于被測物微小區(qū)域(φ60μm)
CIE顏色測定 X Y色度圖,x, y, L, a, b, 飽和度,主波長等
檢測速度快 高性能探測器,能在幾秒內(nèi)實現(xiàn)重現(xiàn)性高的測定
消除背面反射光 無需進(jìn)行背面防反射處理即可快速準(zhǔn)確地測定表面反射率。
Sphere3000球面光學(xué)元件反射率顯微檢測儀-技術(shù)參數(shù)
型號 | Sphere-3000(I型) | Sphere-3000(II型) | Sphere-3000(III型) |
檢測范圍 | 380~800nm | 380~1000nm | 380~1100nm |
波長分辨率 | 1nm | 1nm | 1nm |
相對檢測誤差 | 1% | 1% | 0.5% |
測定方法 | 與標(biāo)準(zhǔn)物比較測定 |
被測物再現(xiàn)性 | ±0.1%以下 (2σ)(380nm~410nm) ±0.05%以下 (2σ)(410nm~800nm) | ±0.1%以下 (2σ)(380nm~410nm) ±0.05%以下 (2σ)(410nm~1000nm) | ±0.1%以下 (2σ)(380nm~410nm) ±0.05%以下 (2σ)(410nm~1100nm) |
單次測量時間 | 1s |
精度 | 0.3nm |
被測物N.A. | 0.12(使用10×對物鏡時) 0.24(使用20×對物鏡時) |
被測物尺寸 | 直徑>1mm 厚度>1mm(使用10×對物鏡時) 厚度>0.5mm(使用20×對物鏡時) |
被測物測定范圍 | 約φ60μm(使用10×對物鏡時) 約φ30μm(使用20×對物鏡時) |
設(shè)備重量 | 約15kg(光源內(nèi)置) |
設(shè)備尺寸 | 300(W)×550(D)×570(H)mm |
使用環(huán)境 | 水平且無振動的場所 溫度:23±5℃;濕度:60%以下、無結(jié)露, |
操作系統(tǒng) | Windows XP, Windows Vista,Win7 |
軟件 | 分光反射率、物體顏色、單層膜厚(有干涉條紋)和鍍膜折射率(有干涉條紋)測定 |