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型號：MT Century Curve Tracer

什么是Curve Tracing?
"Curve tracing" 曲線追蹤是用于尋找IC芯片中被電損壞的引腳的方法。MultiTrace產(chǎn)品提供了廣泛的***系列解決方案，從使用powered curve tracing測試小型芯片的開路/短路到使用Latch Up testing測試與更為復雜的多電路的芯片。

RTI＇s MT Century Curve Tracer 
RTI 開發(fā)的MT Century Curve Tracer是***個性價比較高的曲線追蹤設備。MT Century Curve Tracer測試設備，*多到96個channel，提供4種型號可供客粞≡瘢歡嵴業(yè)揭豢罘峽突У腦に慵安饈砸蟮南到y(tǒng)。MT Century Curve Tracer 與RTI其他大型curve trace擁有***樣的可靠性，功率和軟件。像其他RTI機型***樣，MT Century系y的設計有與950系列的測試A具及其它專用A具連接的接口。

RTI＇s MultiTrace Test System

原淼淖遠吒倨饕丫峁┏10年。這款系統(tǒng)可以檢測達625引腳。 它有各種尺寸可供選擇，以滿足*廣泛用艫男棖蟆

MultiTrace 的應用:

· 無源曲線追蹤器 (Unpowered Curve Tracing):

檢測開路，短路和漏電流

· 有源曲線追蹤器 (Powered Curve Tracing): 
檢測漏電流，供電電流問}。 測量大量有用的⑹

· 電源電流測量(Supply Current Measurements): 
兩種方法y量電流供應 。 
A 6-Bus 系y可同r對3組電源y量

· Latch Up 測試: (選配)
根據(jù)JESD 78 特征, 找出 Latch-Up 敏感度 .

基礎 Curve Tracing 的應用:

· Input-Output 轉(zhuǎn)換功能:
將輸入電壓接到引_上，測量出引腳電平變化.

· 對晶體管做曲線分析:
檢測任何型號的晶體管

· 顯微R:
使用顯微鏡定位原件的損傷部位.

· IDDQ 測試:
測量芯片每個狀態(tài)的電流輸入

· 功能性的引導能力:
Change Input Pin States According to an Input File Then Measure What you Need. Ability to Measure Output States Allows for Gross Functional Testing

根據(jù)所入信息改變輸入 Pin的狀態(tài)，然后進行量測。y量出區(qū)域的功能測試狀態(tài)。

· Kelvin 4-Wire 阻力測試:
使用@種特制的應用軟件來控制開關矩陣和收集的數(shù)據(jù)，實現(xiàn)精密的電阻y量。

RTI＇s MegaTrace 自動直流登咦紛

MegaTrace由648引腳開始***直到2160的引腳，因此其有足虻哪芰聿饈約負躒魏渦酒；骷苫細擼ê莧菀滓貧部梢雜肫淥儀器如顯微R，探針臺，以及其他遠程測試機器***起使用。

曲線追蹤功能

· Unpowered 曲線追蹤 (連續(xù)測試)

· Powered 曲線追蹤

· Supply Current Characterization (Idd 測試)

· 6條總線系統(tǒng)的2VDD 及 3 VDD 湔

其它測量及測試功能

· Latch-Up 測試

· 功能性預處理

· 任何的±15V ***& ±1A直流測量