全自動(dòng)四探針測(cè)試系統(tǒng)
價(jià) 格:詢(xún)價(jià)
產(chǎn) 地:更新時(shí)間:2021-05-11 14:46
品 牌:其他型 號(hào):JC503-D3
狀 態(tài):正常點(diǎn)擊量:2649
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產(chǎn)品介紹
概述:
可對(duì)樣品進(jìn)行單點(diǎn)、五點(diǎn)、九點(diǎn)、多點(diǎn)、直徑掃描、面掃描等模式的全自動(dòng)測(cè)試;
屏蔽測(cè)試,完全消除光線(xiàn)對(duì)樣品測(cè)試的影響,保證測(cè)量的準(zhǔn)確性;
吸附測(cè)試,完全消除全自動(dòng)測(cè)試過(guò)程中樣品移動(dòng)對(duì)測(cè)試的影響;
可不連接電腦使用進(jìn)行單點(diǎn)、中心五點(diǎn)、邊緣五點(diǎn)測(cè)試并把測(cè)試結(jié)果同時(shí)顯示于顯示屏;
運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合全自動(dòng)測(cè)量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測(cè)試方法專(zhuān)用于測(cè)試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的專(zhuān)用儀器。
儀器由主機(jī)、測(cè)試臺(tái)、四探針探頭、真空泵、屏蔽罩、計(jì)算機(jī)等部分組成,測(cè)量數(shù)據(jù)既可由主機(jī)直接顯示,亦可由計(jì)算機(jī)控制進(jìn)行全自動(dòng)測(cè)試,然后把測(cè)試數(shù)據(jù)采集到計(jì)算機(jī)中加以分析,以表格、圖形方式統(tǒng)計(jì)分析顯示測(cè)試結(jié)果。