二探針測試儀
價(jià) 格:詢價(jià)
產(chǎn) 地:更新時(shí)間:2021-05-11 14:33
品 牌:其他型 號:JS705-S2
狀 態(tài):正常點(diǎn)擊量:1796
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產(chǎn)品參數(shù)
二探針測試儀技 術(shù) 指 標(biāo) :
測量范圍 | 電阻率:10-5~105 Ω.cm; |
恒流源 | 電流量程分為1μA、10μA、100μA、1mA、10mA、100mA六檔,各檔電流連續(xù)可調(diào) |
數(shù)字電壓表 | 量程及表示形式:000.00~199.99mV; 分辨力:10μV; 輸入阻抗:>1000MΩ; 精度:±0.1% ; 顯示:四位半紅色發(fā)光管數(shù)字顯示;極性、超量程自動(dòng)顯示; |
二探針探頭基本指標(biāo) | 間距:3mm(可選其它間距); 針間絕緣電阻:≥1000MΩ; 機(jī)械游移率:≤0.3%; 探針:碳化鎢或高速鋼Ф0.5mm; 探針壓力:5~16 牛頓(總力); |
二探針探頭應(yīng)用參數(shù) | (見探頭附帶的合格證) |
模擬電阻測量相對誤差 ( 按JJG508-87進(jìn)行) | 0.01Ω、0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω、1000Ω、10000Ω≤0.3%±1字 |
測試架 | 配置T-2A測試架,兩端電極Ф8mm~20mm(可選其他尺寸訂做) |
計(jì)算機(jī)通訊接口 | 并口 |
標(biāo)準(zhǔn)使用環(huán)境 | 溫度:23±2℃; 相對濕度:≤65%; 無高頻干擾; 無強(qiáng)光直射; |
產(chǎn)品介紹
二探針測試儀概述:
二探針測試儀是運(yùn)用二探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測試方法******標(biāo)準(zhǔn)并參考美*** A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的,專用于測試半導(dǎo)體材料縱向電阻率的專用儀器。
儀器由主機(jī)、測試臺、二探針探頭、計(jì)算機(jī)等部分組成,測量數(shù)據(jù)既可由主機(jī)直接顯示,亦可由計(jì)算機(jī)控制測試采集測試數(shù)據(jù)到計(jì)算機(jī)中加以分析,然后以表格,圖形方式統(tǒng)計(jì)分析顯示測試結(jié)果。
儀器采用了電子技術(shù)進(jìn)行設(shè)計(jì)、裝配。具有功能選擇直觀、測量取數(shù)快、精度高、測量范圍寬、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、易操作等特點(diǎn)。
本儀器適用于半導(dǎo)體材料廠、科研單位、高等院校對半導(dǎo)體材料的電阻性能測試。