CMOS平板探測器
價 格：詢價
產 地：更新時間：2021-08-09 09:37
品 牌：其他型 號：CMOS X射線相機
狀 態(tài)：正常點擊量：2668
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CMOS X射線相機由單個半導體硅片制成，可直接探測可見光或配合閃爍晶體用于探測X光和其它高能輻射。針對不同應用，可配備不同厚度Gadox或針狀CsI閃爍體，是醫(yī)學診斷，工業(yè)檢測，科學成像的理想解決方案，標準能量測試范圍為不超過220KV，根據(jù)客戶要求，能量可到400KV，采用Camera Link接口，全分辨率下可到65幀/秒
產品參數(shù)
| 有效面積(mm) | 114.9x64.6 |
| 分辨率 | 1536x864 |
| 像素尺寸(μm) | 74.8/149.6/299.2;依賴于不同的binning |
| MTF@6lp/mm | 大于20%;(150μm HR CsI without binning) |
| DQE | ~0.7 at 0.5lp/mm (28 kV, W / Al) |
| Binning | 1 x 1, 1 x 2, 2 x 2, 1 x 4, 2 x 4, 4 x 4 |
| 工作模式 | 提供低噪聲及高動態(tài)范圍兩種 |
| 動態(tài)范圍 | 6400-2400;依賴于不同的工作模式及binning |
| 幀速 | 32-191;依賴于不同的binning及數(shù)據(jù)接口 |
| ADC分辨率 | 14位 |
| 計算機接口 | Camera Link或千兆以太網 |
| 外形尺寸(mm) | 241 x 150 x 42 |
| 重量(kg) | 1.9 |
滬公網安備31011502016460號
