OLYMPUS奧林巴斯38DL PLUS手持式超聲波測(cè)厚儀
主要特性:? 可與雙晶和單晶探頭兼容。 ? 寬泛的厚度范圍:0.08毫米~635毫米,根據(jù)材料和所選探頭而定。 ? 使用雙晶探頭進(jìn)行腐蝕測(cè)厚。 ? 穿透涂層和回波到回波測(cè)量功能,用于測(cè)量表面帶有漆層和涂層的材料。 ? 內(nèi)部氧化層/沉積物軟件選項(xiàng)。 ? 對(duì)于所有探頭,標(biāo)準(zhǔn)分辨率為0.01毫米。 ? 使用頻率范圍為2.25 MHz~30 MHz的單晶探頭,高分辨率軟件選項(xiàng)可進(jìn)行分辨率為0.001毫米的厚度測(cè)量。 ? 多層軟件選項(xiàng)可對(duì)多達(dá)4個(gè)不同層同時(shí)進(jìn)行測(cè)量。 ? 高穿透軟件選項(xiàng)用于測(cè)量纖維玻璃、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料。 ? 厚度、聲速和渡越時(shí)間測(cè)量。 ? 差分模式和縮減率模式。 ? 時(shí)基B掃描模式;每次掃查可獲得10000個(gè)可查讀數(shù)。 ? 帶有數(shù)字式過濾器的Olympus高動(dòng)態(tài)增益技術(shù)。 ? 用于自定義V聲程補(bǔ)償?shù)腣聲程創(chuàng)建功能。 ? 設(shè)計(jì)符合EN15317標(biāo)準(zhǔn)。
簡便操作的設(shè)計(jì)理念
? 可用右手或左手單手操作的簡潔的鍵區(qū)。
? 可直接訪問所有功能的簡便易行的操作界面。
? 內(nèi)置和外置MicroSD存儲(chǔ)卡。
? USB和RS-232通訊端口。
? 可存儲(chǔ)475000個(gè)厚度讀數(shù)或20000個(gè)波形的字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器。
? 可連接計(jì)算機(jī)或顯示器的VGA輸出。
? 默認(rèn)或自定義雙晶探頭設(shè)置。
? 默認(rèn)或自定義單晶探頭設(shè)置。
? 密碼保護(hù)功能可以鎖住儀器的功能。
數(shù)據(jù)記錄器和PC機(jī)接口
38DL PLUS測(cè)厚儀帶有***個(gè)功能齊全的內(nèi)置雙向字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器,可方便地收集和傳輸厚度讀數(shù)和波形數(shù)據(jù)。
? 內(nèi)置存儲(chǔ)容量為475000個(gè)厚度讀數(shù)或20000個(gè)帶有厚度讀數(shù)的波形。
? 32位字符的文件名稱。
? 20位字符的ID# (TML#)編碼。
? 9個(gè)文件格式:增量型、序列型、帶自定義點(diǎn)的序列型、2-D柵格型、帶自定義點(diǎn)的2-D柵格型、3-D柵格型、3-D自定義型、鍋爐型及手動(dòng)型。
? 每個(gè)ID# (TML)編碼可[much]多存儲(chǔ)4個(gè)注釋。
? 注釋可存儲(chǔ)到***個(gè)ID#編碼上或存儲(chǔ)到***系列ID#編碼上。
? 內(nèi)置和外置MicroSD存儲(chǔ)卡。
? 可以在內(nèi)置和外置MicroSD存儲(chǔ)卡之間拷貝文件。
? 標(biāo)準(zhǔn)USB和RS-232通信。
? 單晶和雙晶探頭設(shè)置的雙向傳輸。
? 機(jī)載統(tǒng)計(jì)報(bào)告。
? 機(jī)載DB柵格視圖,帶有3種可編程的顏色。
? GageView接口程序通過USB或RS-232端口與38DL PLUS測(cè)厚儀通信,可以讀取MicroSD存儲(chǔ)卡上的數(shù)據(jù),還可以在存儲(chǔ)卡上寫入信息。
? 可將內(nèi)部文件以與Excel兼容的CSV(以逗號(hào)分隔值)格式直接導(dǎo)出到MicroSD存儲(chǔ)卡。
機(jī)載DB柵格視圖,帶有3種可編程的顏色
GageView?
? 基于Windows的GageView接口程序用于收集、創(chuàng)建、打印及管理來自38DL PLUS測(cè)厚儀的數(shù)據(jù)。
? 創(chuàng)建數(shù)據(jù)集和測(cè)量總結(jié)。
? 編輯所存數(shù)據(jù)。
? 顯示數(shù)據(jù)集和測(cè)量總結(jié)文件,文件包含厚度讀數(shù)、測(cè)厚儀設(shè)置值及探頭設(shè)置值。
? 從測(cè)厚儀上下載厚度測(cè)量總結(jié),或上傳厚度測(cè)量總結(jié)至測(cè)厚儀。
? 將測(cè)量總結(jié)導(dǎo)出到電子表格及其他程序。
? 收集捕獲的屏幕。
? 打印有關(guān)厚度、設(shè)置表格、統(tǒng)計(jì)及彩色柵格的報(bào)告。
? 升***操作軟件。
? 下載和上傳單晶和雙晶探頭設(shè)置文件。
? B掃描回顧
對(duì)內(nèi)部腐蝕的金屬材料進(jìn)行厚度測(cè)量
38DL PLUS測(cè)厚儀的***個(gè)主要應(yīng)用是測(cè)量那些受腐蝕或侵蝕的管道、管件、箱體、壓力容器、外殼及其他結(jié)構(gòu)的剩余厚度。這些應(yīng)用中[much]常使用的是雙晶探頭。
? 用于標(biāo)準(zhǔn)D79X系列雙晶探頭的自動(dòng)探頭識(shí)別功能。
? 10個(gè)自定義雙晶探頭設(shè)置。
? 校準(zhǔn)過程中用于雙晶探頭的優(yōu)化默認(rèn)增益。
? 用于自定義V聲程補(bǔ)償?shù)腣聲程創(chuàng)建功能。
? 校準(zhǔn)過程中出現(xiàn)回波加倍時(shí)使用的校準(zhǔn)加倍功能。
? 用于測(cè)量帶有漆層和涂層表面的材料的穿透涂層和回波到回波測(cè)量功能。
? 高溫測(cè)量:溫度可高達(dá)500°C。
? 鍋爐管件和內(nèi)部氧化層測(cè)量(可選項(xiàng)),使用M2017或M2091單晶探頭。
? EMAT探頭(E110-SB),用于對(duì)外部附有氧化層/沉積物的鍋爐管件進(jìn)行不使用耦合劑的厚度測(cè)量。