OLYMPUS奧林巴斯Panametrics 35DL手持式超聲波測(cè)厚儀
35型和35DL型超聲波測(cè)厚儀使用頻率范圍為2.25～30 MHz的探頭，因此這些通用型測(cè)厚儀可完成大多數(shù)從極薄到極厚材料的厚度測(cè)厚。****般*來(lái)*說(shuō)，探頭頻率越高而直徑越小，對(duì)較薄或彎曲的工件測(cè)量的精度越高。
美***泛美超聲波測(cè)厚儀系列的特性
所有型號(hào)的標(biāo)準(zhǔn)配置均包含聲速和減縮率測(cè)量。
? 可測(cè)厚度范圍寬：0.08 mm～635.0 mm（0.0030 in.～25.0 in.），取決于儀器和材料。
? 采用接觸式、延*遲線式、水浸式探頭。
? 自動(dòng)調(diào)用功能可調(diào)用默認(rèn)設(shè)置和自定義設(shè)置。
? 手持式，僅重0.24公斤（8.5盎司）。
? 低至/髙至模式
? 高-低報(bào)警
? 英制和公制顯示（英寸或毫米）
? 多種語(yǔ)言用戶界面
? 長(zhǎng)效電池
Panametrics 35DL超聲波測(cè)厚儀應(yīng)用
? 從薄到厚的大多數(shù)材料
? 薄如0.08毫米（0.003英寸）的塑料瓶、管件、管道、及板材
? 薄如0.10毫米（0.004英寸）的金屬容器、鋼卷材及機(jī)加工部件
? 汽缸孔、渦輪葉片
? 玻璃燈泡、瓶子
? 薄玻璃纖維、橡膠、陶瓷及復(fù)合材料
? 半徑較小的曲面部分或容器
? 分辨率可達(dá)0.001毫米或0.0001英寸
利用減縮率，可測(cè)量金屬材料因彎曲而變薄的臨界厚度值。
Panametrics 35DL超聲波測(cè)厚儀減縮率測(cè)量
所有儀器型號(hào)的標(biāo)準(zhǔn)配置都具有差分模式和減縮率模式。差分模式顯示實(shí)測(cè)厚度與預(yù)設(shè)厚度之間的差值變化?？s減率計(jì)算并顯示材料變薄以后厚度縮減的百分比。典型的應(yīng)用是對(duì)為制造車(chē)身面板而彎曲成形的鋼板進(jìn)行測(cè)量。
可直接顯示聲速數(shù)值的聲速測(cè)量模式
Panametrics 35DL超聲波測(cè)厚儀材料聲速測(cè)量
所有Panametrics 35型儀器均具有測(cè)量材料聲速的性能。在材料聲速與其它特性可能有關(guān)系的應(yīng)用中，這個(gè)標(biāo)準(zhǔn)功能非*常有用。典型應(yīng)用包括監(jiān)測(cè)金屬鑄件的球化程度，以及監(jiān)測(cè)復(fù)合材料/玻璃纖維材料的密度變化。Olympus提供***個(gè)數(shù)字卡尺，用于自動(dòng)傳輸測(cè)量厚度值。
Panametrics 35DL超聲波測(cè)厚儀自動(dòng)調(diào)用功能可簡(jiǎn)化測(cè)量操作
自動(dòng)調(diào)用功能可使厚度測(cè)量簡(jiǎn)化。在選擇了任*何***種所存的探頭時(shí)，35型儀器都可調(diào)用相關(guān)內(nèi)置探頭的所有參數(shù)。
Panametrics 35DL超聲波測(cè)厚儀存儲(chǔ)的標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置包括大多數(shù)常用的探頭。
Panametrics 35DL超聲波測(cè)厚儀存儲(chǔ)的自定義設(shè)置在標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置不能滿足特殊的應(yīng)用需求時(shí)，這些測(cè)厚儀可以創(chuàng)建、存儲(chǔ)和調(diào)用多達(dá)20個(gè)自定義設(shè)置（35型和35HP型可調(diào)用10個(gè)自定義設(shè)置）
Panametrics 35DL超聲波測(cè)厚儀配合M208探頭應(yīng)用
在這種基本應(yīng)用中不可使用測(cè)微計(jì)。然而，可以使用配有M208探頭的35型儀器，在不損壞玻璃的情況下，進(jìn)行校準(zhǔn)精度達(dá)0.001毫米（0.0001英寸）的厚度測(cè)量。
超薄鋼板（0.10毫米或0.004英寸）的厚度和波形
滬公網(wǎng)安備31011502016460號(hào)
