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膜厚測量 | 反射式膜厚測量儀

2024-05-21 09:50:26

光譜反射式膜厚、折射率測量儀器是***種利用光譜反射原理來測量薄膜厚度和折射率的設(shè)備。反射測量是通過分析從單層或多層薄膜結(jié)構(gòu)反射回來的光強(qiáng)變化,來確定薄膜的厚度。在這個(gè)過程中,入射光以垂直的角度照射到樣品表面。由于界面之間的干涉效應(yīng),反射光譜會(huì)發(fā)生變化,這些變化可以用來計(jì)算薄膜的厚度,無論是在透明、部分透明還是完全反射的基板上。

01

反射式膜厚測量工作原理




入射到樣品表面的光經(jīng)薄膜上下表面多次干涉后從樣品表面出射,經(jīng)過光譜儀的采集,得到出射光光強(qiáng),出射光光強(qiáng)與入射光光強(qiáng)之比值即為薄膜的反射率(),此反射率表現(xiàn)為波長的函數(shù),得到反射率曲線。

02

反射式膜厚儀應(yīng)用領(lǐng)域




廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造、平板顯示、光學(xué)鍍膜、太陽能電池等。
中,反射式膜厚測量儀可以用于測量晶圓上的薄膜厚度,如二氧化硅、氮化硅等,以確保半導(dǎo)體器件的性能和可靠性。
中,反射式膜厚測量儀可以用于測量液晶顯示器、有機(jī)發(fā)光二極管等的薄膜厚度,以確保顯示效果和質(zhì)量。
中,反射式膜厚測量儀可以用于測量光學(xué)鏡片、濾光片等的薄膜厚度,以確保光學(xué)性能和質(zhì)量。
中,反射式膜厚測量儀可以用于測量太陽能電池板上的薄膜厚度,如氮化硅、氧化鋁等,以確保太陽能電池的效率和可靠性。
晶諾微 Quasar R100是***款體積小巧的光譜反射式膜厚、折射率測量儀器,操作簡單,極易上手。Quasar R100軟件還擁有豐富的的材料數(shù)據(jù)庫,客戶還可以通過軟件及自帶數(shù)據(jù)庫對(duì)材料,菜單進(jìn)行管理,并具有豐富的數(shù)據(jù)查看、統(tǒng)計(jì)功能。

可測量如4-12英寸的晶圓及其他各種不規(guī)則形狀樣品;

b.測量精度和穩(wěn)定性高:可測量材料厚度、折射率、吸收系數(shù)和反射率等;
d.操作簡單且功能豐富:產(chǎn)品規(guī)格:



(文章來源于儀器網(wǎng))

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