膜厚測量 | 反射式膜厚測量儀
01
反射式膜厚測量工作原理
入射到樣品表面的光經(jīng)薄膜上下表面多次干涉后從樣品表面出射,經(jīng)過光譜儀的采集,得到出射光光強(qiáng),出射光光強(qiáng)與入射光光強(qiáng)之比值即為薄膜的反射率(),此反射率表現(xiàn)為波長的函數(shù),得到反射率曲線。
02
反射式膜厚儀應(yīng)用領(lǐng)域
可測量如4-12英寸的晶圓及其他各種不規(guī)則形狀樣品;
(文章來源于儀器網(wǎng))
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01
反射式膜厚測量工作原理
入射到樣品表面的光經(jīng)薄膜上下表面多次干涉后從樣品表面出射,經(jīng)過光譜儀的采集,得到出射光光強(qiáng),出射光光強(qiáng)與入射光光強(qiáng)之比值即為薄膜的反射率(),此反射率表現(xiàn)為波長的函數(shù),得到反射率曲線。
02
反射式膜厚儀應(yīng)用領(lǐng)域
可測量如4-12英寸的晶圓及其他各種不規(guī)則形狀樣品;
(文章來源于儀器網(wǎng))