半導體 | 光學缺陷檢測
02 缺陷檢測產(chǎn)品 晶諾微缺陷檢測設(shè)備 PULSAR 系列包括 L 系列和 H 系列,PULSAR L 系列及 PULSAR H 系列是應用于電子、半導體工業(yè)領(lǐng)域的如 WLP(晶圓***封裝)、PLP(面板***封裝)、晶圓制造前端工藝等,可實現(xiàn)從低分辨率到高分辨率的缺陷檢測、分
● 測量速度快,產(chǎn)能可以到 6pcs/hr(6inch,0.2um● 設(shè)備穩(wěn)定性和可靠性高;
復查;
● 亞像素的分辨率(1/10 像素);
2)產(chǎn)品規(guī)格
● 高速 TDI 線陣掃描;● ● 高分辨率:分辨率低至 0.5um ;
● 高精度,XY 重復性 ±0.5um
(文章來源于儀器網(wǎng))