AFM/SEM二合一顯微鏡，一鍵觸達感興趣區(qū)域，三維形貌輕松
在材料學和微納器件等領域，微觀結構對宏觀性能起到關鍵作用。然而，在研究過程中，要對關鍵性微觀區(qū)域的原位性能研究卻困難重重。常遇到的情況是：在SEM上找到了感興趣的微區(qū)域，當把樣品轉移到AFM等設備上時，又需要很長的時間再找回相應的微區(qū)域進行表征。對于***些納米***的微區(qū)域，后續(xù)表征時定位起來更加困難，甚至會錯過相關微區(qū)域的表征。對于具有***定高度的微結構，即3D微結構，主流的表征手段僅僅能通過SEM對其形貌進行觀察，而相關的三維形貌表征***般很難進行，為相關研究帶來了不便。
針對上述難點，Quantum Design公司研發(fā)推出了聯(lián)合共坐標AFM/SEM二合***顯微鏡-FusionScope。在FusionScope中，SEM和AFM通過其內置的共坐標系統(tǒng)進行結合。在使用過程中，只需要在SEM成像結果中點擊相關位置，F(xiàn)usionScope就可以自動引導AFM探針到相關位置，然后進行AFM表征。為了滿足不同的研究需要，F(xiàn)usionScope不僅可對微結構的三維結構進行成像，還可以對區(qū)域的電學、磁學和力學等性能進行表征。隨著FusionScope設備的推出，已有多個課題組利用FusionScope在***些高水平的***際期刊發(fā)表了相關的研究成果。
FusionScope設備圖片以及可以提供的微觀表征手段
BaTiO3陶瓷的晶界勢壘研究
奧地利TDK公司與格拉茨技術大學（Graz University of Technology）合作，利用Quantum Design公司推出的AFM/SEM二合***顯微鏡-FusionScope對BaTiO3陶瓷的晶界勢壘進行了直接的測量，明確了晶界勢壘能量變化的相關微觀機理。相關成果發(fā)表在SCI期刊《Scripta Materialia》。
在3V的電壓下FusionScope的a)原子自理顯微鏡（Atomic Force Microscopy, AFM）對樣品形貌的成像效果和b) 靜電力顯微鏡（Electrostatic Force Microscopy, EFM）下相同電壓且同***區(qū)域的成像結果
通過FusionScope獲得的（a）SiO2含量為0%和（c）SiO2含量為5%的BaTiO3陶瓷樣品的EFM結果。（b）和（d）為（a）和（c）同***微區(qū)的背散射電子成像結果
通過FusionScope獲得的（a）EFM成像結果，（b）同***區(qū)域的背散射衍射（EBSD）結果和（c）該區(qū)域的背散射電子成像結果
3D等離子體納米結構研究
格拉茨技術大學相關團隊提出基于聚焦電子束誘導沉積（Focused Electron Beam Induced Deposition，F(xiàn)EBID）方法制備具有精確納米尺度3D幾何結構的等離子體納米結構。在完成3D納米結構的制備后，通過FusionScope對相應的3D納米結構進行了原位幾何尺寸的表征。根據FusionScope測量所獲得的數據，對微結構的等離子性能進行模擬計算。通過對比發(fā)現(xiàn)，微結構的計算等離子表現(xiàn)與實驗測量結果***致。相關結果在SCI期刊《Advanced Functional Materials》上發(fā)表。
制備、清除和3D加工能力展示。（a）氣體注入系統(tǒng)（GIS）將金屬氣體前驅物分子（Me2(acac)Au(III)）注入到基底附近，利用聚焦電子束形成在基底上形成沉積。（b-g）展示了FEBID制備復雜構型的3D納米結構的能力。（h）為運用聚焦電子束去除碳的過程
不同平面結構的等離子體測量結果。（a）為利用FusionScopeTM的原位AFM測量的在制備后和清除后的微納結構變化區(qū)別。（b）為通過原位AFM測量的在去除前后所制備納米結構的體積變化。（c）為部分去除樣品的STEM-EELS能譜。（d-l）為不同設計下的等離子體測量結果
利用FusionScopeTM獲取用于模擬的數據。（a-b）在FusionScopeTM中利用SEM對AFM進行引導，在放置在TEM網格上的Au納米線進行測量。（c）對FusionScopeTM所獲得的數據和TEM所獲得的數據進行相互驗證。（d）FusionScopeTM測量Au納米線的高度為24 nm，半峰寬為51 nm
人工骨骼樣品微觀表征研究
人工骨骼樣品放置在FusionScope的樣品臺上。右方為FusionScope對人工骨骼的特定區(qū)域進行三維表征
FusionScope對樣品的微結構三維形貌進行表征
(文章來源于儀器網)
