水平及豎直兩種光學(xué)切片的結(jié)合
光學(xué)成像儀器可以放大微小物體,聚焦遙遠(yuǎn)星體,揭示肉眼看不見的細(xì)節(jié)。但是,它有***個(gè)眾所周知且令人煩惱的問題:景深有限。我們的眼睛(也是***種光學(xué)成像裝置)也有同樣的困擾,但我們的大腦在信號到達(dá)意識(shí)認(rèn)知之前會(huì)巧妙地移除所有不在焦點(diǎn)上的信息。如果圖像保留在照片上,這種方法就不起作用了。通過優(yōu)化參數(shù),我們可以增加焦點(diǎn)深度,但通常我們會(huì)失去分辨率以及z位置上的信息。 如果可能的話,我們只記錄焦點(diǎn)中的特征并測量相對的z位置,我們就可以解決景深問題:在記錄***系列圖像之后,我們就可以重建整個(gè)樣本而不帶模糊部分,并在所有三個(gè)維度上量化物體。
01 垂直方式——共聚焦 通常,當(dāng)我們提到光學(xué)切片時(shí),***先想到的是共聚焦顯微鏡[1]。共聚焦原理已經(jīng)無縫地集成到標(biāo)準(zhǔn)型光學(xué)顯微鏡中(盡管技術(shù)整合需要進(jìn)行大量的修改)。與普通光學(xué)顯微鏡不同,真正的共聚焦成像要求照亮盡可能小的單點(diǎn)。光斑的直徑由波動(dòng)光學(xué)決定,并在d≈λ/NA時(shí)達(dá)到衍射極限***小值。詳細(xì)的強(qiáng)度分布由點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)描述。同時(shí),探測器也必須感知盡可能小的光斑。由于光路是對稱的,同樣的數(shù)學(xué)原理也適用于點(diǎn)狀探測器的傳感分布。通過在檢測路徑中的中間像面引入針孔光圈來實(shí)現(xiàn)點(diǎn)探測器。在樣本中,照明和檢測的焦點(diǎn)必須重合——因此稱為“共聚焦”顯微鏡。如圖1所示,針孔的效果是光學(xué)地去除所有不是來自焦平面的光線。它的功能是在z方向上作為空間濾波器。 由于光學(xué)刀片***次僅在***個(gè)單點(diǎn)上工作,為了生成圖像,這個(gè)點(diǎn)必須從上到下逐行移動(dòng)。強(qiáng)度同步轉(zhuǎn)換為數(shù)字信息,并存儲(chǔ)在計(jì)算機(jī)的幀存儲(chǔ)器中。從這種電子存儲(chǔ)器中,圖像在普通監(jiān)視器上顯示。由于圖像必須逐點(diǎn)順序構(gòu)建,因此只有在影響幀格式和接受的信噪比的***定限制下,才能實(shí)現(xiàn)高幀率。例如Leica SP探測器和混合探測器(HyDs)等高度透明的光束路徑以及非常高效的傳感器有助于提高高幀率性能。與PAL標(biāo)準(zhǔn)顯示的線頻率約為15,000 Hz相比,共聚焦顯微鏡實(shí)現(xiàn)了高達(dá)12,000 Hz的線頻率。在適當(dāng)?shù)臈l件下,每秒的幀率可能高達(dá)約500幀。盡管如此,為了獲得信噪比足夠高的圖像,幀率通常不會(huì)超過每秒10幀。 與掃描過程相關(guān)的另***個(gè)問題是,樣品中焦點(diǎn)平面以上和以下的區(qū)域會(huì)暴露于大量照明能量,這些能量不會(huì)貢獻(xiàn)于圖像,但可能會(huì)導(dǎo)致熒光染料的光物理降解。由于熒光染料在焦點(diǎn)平面以上也會(huì)吸收光,因此當(dāng)深入樣品聚焦時(shí),熒光強(qiáng)度會(huì)變得越來越暗。這可以通過自動(dòng)增益適應(yīng)來補(bǔ)償,但會(huì)降低信噪比。 真正共聚焦成像的積極方面在于其高分辨率(易于應(yīng)用高數(shù)值孔徑鏡頭)、焦點(diǎn)平面上的圖像本身均勻,以及共聚焦顯微鏡可以輕松分析標(biāo)準(zhǔn)制備。共聚焦顯微鏡基于標(biāo)準(zhǔn)同軸光學(xué)顯微鏡,通過簡單的切換,顯微學(xué)***可以使用所有標(biāo)準(zhǔn)的顯微鏡方法和對比度模式。它也是其他類型掃描顯微鏡的基礎(chǔ),如多光子激發(fā)、高次諧波產(chǎn)生顯微術(shù)、相干反斯托克斯拉曼散射顯微術(shù)和超分辨率技術(shù)STED(受激發(fā)射損耗顯微術(shù))。 圖1:真正共聚焦掃描顯微鏡中光路的示意圖。激發(fā)光(藍(lán)色)通過用于入射照明的分光器耦合到顯微鏡中,并通過物鏡1聚焦到衍射受限光斑。發(fā)射光通過分光器并通過針孔進(jìn)行空間過濾。在x和y方向上掃描光斑會(huì)產(chǎn)生圖像,即光學(xué)切片。
02 水平方式——光片 盡管共聚焦顯微鏡是光學(xué)切片技術(shù)的黃金標(biāo)準(zhǔn),但執(zhí)行這***任務(wù)的第***臺(tái)顯微鏡早在半個(gè)世紀(jì)前就已經(jīng)問世。這款“Spalt-Ultramikroskop”[2]使用了***個(gè)明亮的光源(弧光燈或太陽),該光源聚焦到***個(gè)狹縫孔徑中。第二個(gè)透鏡,通常是***個(gè)再利用的物鏡,將這個(gè)狹縫正交投影到顯微鏡的光軸上的樣本中。這種設(shè)計(jì)有效地創(chuàng)建了***個(gè)厚度約為兩微米的片狀光。早期的應(yīng)用是關(guān)注亞分辨率粒子,如彩色玻璃中的分散金。后來證明它對化學(xué)和醫(yī)學(xué)研究中常見的各種膠體樣品和混濁介質(zhì)非常有用。這種早期的光片顯微鏡***于可視化小到5納米的粒子,這些粒子會(huì)引起照明的球形散射,這種散射在顯微鏡的垂直光束路徑中作為衍射圖案被觀察到。因此,它可視化的是稱為“Ultramikronen”的不可解析粒子,即“超出顯微鏡分辨率”的粒子。盡管“超顯微鏡”這個(gè)名字***先會(huì)讓人聯(lián)想到***種超分辨率類型的設(shè)計(jì),但作者明確表示,超顯微鏡明顯受到光學(xué)衍射的限制。 圖2:Spalt-Ultramikroskop中光路的示意圖。激發(fā)光通過物鏡1聚焦,經(jīng)過狹縫(Spalt)正交地進(jìn)入樣本。發(fā)射光被物鏡2收集,并可能由相機(jī)記錄為光學(xué)切片。 后來,人們開發(fā)了避開精密狹縫的設(shè)計(jì),并使用了筒鏡來創(chuàng)建垂直于光軸的片狀光[3]。這種布置隨后被用于熒光固定樣本。光片顯微鏡特別有利于對厚樣本進(jìn)行快速活細(xì)胞成像,因?yàn)槠赚F(xiàn)象不太明顯,而且圖像記錄是由數(shù)字相機(jī)并行進(jìn)行的,如Huisken所示[6]。由于照明在z方向上聚焦的所有位置都是相等的,因此z方向上的吸收不是問題。然而,發(fā)射光必須通過樣本,就像普通顯微鏡***樣,這可能會(huì)在***定程度上使厚樣本的圖像質(zhì)量變差。盡管如此,在側(cè)向方向上仍然存在陰影效應(yīng):光***先被照明光進(jìn)入樣本的***側(cè)吸收,因此,熒光在相反的***側(cè)會(huì)變暗。Voie[3]通過旋轉(zhuǎn)樣本并從不同方向收集圖像來補(bǔ)償這種效應(yīng)。Dodt[7]從兩個(gè)相對的方向照射樣本,以補(bǔ)償光片的光吸收。Keller[4]沒有使用投射的狹縫孔徑或圓柱形透鏡,而是掃描了垂直于觀察軸的細(xì)激光束。這種方案被稱為“數(shù)字掃描光片”。
03 結(jié) 合 圖3:真共聚焦掃描和垂直旋轉(zhuǎn)光片掃描的相干融合光路示意圖。詳情請參見圖1和圖2的圖例。這種配置允許在兩種光學(xué)切片模式之間無縫切換。 這兩種范例都已被引入生物醫(yī)學(xué)研究和常規(guī)流程中,為生物概念和疾病以及細(xì)胞成分的構(gòu)造和功能提供了新的見解和理解。在儀器方面,這兩種方法存在顯著差異,正交照明被視為系統(tǒng)的獨(dú)立部分,并與同軸顯微鏡結(jié)合以執(zhí)行任務(wù)。共聚焦顯微鏡使用光束掃描系統(tǒng)創(chuàng)建二維圖像,而數(shù)字掃描光片使用光束掃描從線條創(chuàng)建區(qū)域。這立即引發(fā)了***個(gè)問題,即是否有可能將這兩種策略結(jié)合到單個(gè)系統(tǒng)中。(Leica Microsystems)使用STELLARIS DLS光片顯微鏡[5]提供了這種解決方案。 STELLARIS DLS基于普通共聚焦顯微鏡,這是***種同軸掃描設(shè)備,它通過檢測針孔在空間上過濾失焦光來進(jìn)行光學(xué)切片。通過電流計(jì)掃描鏡使照明光斑在兩個(gè)側(cè)向方向上移動(dòng)來生成圖像。要將這樣的系統(tǒng)轉(zhuǎn)換為數(shù)字光片顯微鏡,必須使照明光束通過樣本,垂直于光軸。通過在觀察場外的焦平面位置引入***個(gè)小鏡子,可以實(shí)現(xiàn)所需的正交照明。這種偏轉(zhuǎn)鏡與觀察鏡機(jī)械連接,以確保照明的z位置始終位于圖像生成光學(xué)的焦點(diǎn)上,同時(shí)圖像被投射到檢測器上,將強(qiáng)度轉(zhuǎn)換為數(shù)字圖像。 照明光束的單個(gè)位置不會(huì)形成二維圖像,而只會(huì)形成***條線??梢岳霉簿劢癸@微鏡中固有的***個(gè)側(cè)向掃描模式來在垂直方向上掃描照明線,從而得到所需的二維平面。 如果在相反的***側(cè)引入第二個(gè)鏡子,就可以通過同***透鏡從兩側(cè)照射樣本——僅通過使用共聚焦顯微鏡的光束掃描設(shè)備的第二個(gè)軸。這滿足了補(bǔ)償因吸收導(dǎo)致的陰影的需要。之后的圖像隨后再由兩個(gè)不同照明方向的圖像重新構(gòu)建。 在共聚焦模式下進(jìn)行成像時(shí),必須調(diào)整z軸驅(qū)動(dòng)元件,使照明光束的焦點(diǎn)與要成像的特征重合。然后,掃描過程僅覆蓋視場內(nèi)部,有效抑制了焦外光,從而獲得高對比度的圖像。切換到光片采集模式時(shí),需要將焦點(diǎn)移動(dòng)約等于鏡面到光軸的距離。此時(shí),光束的平面生成部分將落在觀察視場的中心。掃描裝置需要指向視場邊緣,才能照射到鏡面并生成光片。 這種組合不僅降低了儀器成本,因?yàn)閮蓚€(gè)不同的儀器合并為***個(gè),而且它還允許將經(jīng)典共聚焦顯微鏡和光片顯微鏡結(jié)合起來。因此,同***系統(tǒng)允許使用適合解決當(dāng)前研究問題的技術(shù)來探索任何樣本。它還為各種新的應(yīng)用機(jī)會(huì)提供了可能,因?yàn)楣簿劢孤窂娇捎糜诠獠倏?,隨后通過溫和的光片成像觀察誘導(dǎo)效應(yīng)。
(文章來源于儀器網(wǎng))