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《COMPUT ELECTRON AGR》--基于無人機(jī)高光譜影像監(jiān)測倒伏脅迫下玉米冠層葉綠素密度

2024-09-06 09:29:59

研究單位

中***農(nóng)業(yè)大學(xué)

******農(nóng)業(yè)信息技術(shù)工程研究中心

******智能農(nóng)業(yè)裝備研究中心

武漢大學(xué)


圖3 玉米倒伏人工控制照片

圖4 試驗田玉米倒伏類型(RL:根倒伏;SB1:玉米莖稈在第3節(jié)間處彎曲;SB2:玉米莖稈在玉米穗下部節(jié)間處彎曲;SI60°、SI45°、SI30°分別為玉米莖稈傾斜60°、45°、30°;CK:對照的直立植株)

圖5 數(shù)據(jù)采集照片

圖6 實驗地塊高光譜影像真彩色合成圖(VT:抽穗期;R3:乳熟期)
圖7 實驗地塊的高光譜立方體圖像

圖8 玉米植株倒伏示意圖、冠層高度(h)和倒伏后冠層高度(hL)、地塊面積(A)和采樣面積(s)

圖9 不同倒伏程度玉米的OCS變化

圖10 不同倒伏等***玉米冠層光譜紅邊位置

圖11 不同倒伏程度的冠層圖像

圖12 玉米葉片和莖稈的光譜曲線

圖13 不同倒伏程度CCD的變化

圖14 CCD與OCS之間的關(guān)系
圖15 CCD與FOD之間的關(guān)系

圖16 CCD與WC之間的關(guān)系

圖17 基于OCS(a)、FOD(b)、WC(c)和VI(d)構(gòu)建模型估算的CCD與實測CCD之間的關(guān)系
圖18 CCD空間分布圖(注:CCD<0為玉米葉片陰影、玉米植株之間的間隙以及倒伏暴露的土壤)

研究結(jié)論

針對作物倒伏脅迫,基于無人機(jī)高光譜影像進(jìn)行CCD估算和倒伏等***監(jiān)測。構(gòu)建表征玉米倒伏嚴(yán)重程度的CCD指數(shù),該指數(shù)融合了作物結(jié)構(gòu)參數(shù)和生理參數(shù),能夠解釋倒伏脅迫下作物冠層結(jié)構(gòu)的變化和對作物生理活動的影響。分析了不同倒伏等***下玉米冠層光譜與CCD的變化特征,探究不同光譜參數(shù)與CCD的內(nèi)在聯(lián)系,并在特征變換和CCD模型構(gòu)建方面開展了***系列研究。結(jié)論如下:(i)隨著倒伏等***的增加,玉米冠層光譜反射率增大,紅邊位置向短波方向移動;(ii)倒伏脅迫越嚴(yán)重,CCD越高;特征變換提高了FOD、WC、VI與CCD的相關(guān)性,相關(guān)性高于OCS。(iii)基于VI的敏感參數(shù)構(gòu)建CCD模型,R2=0.63,RMSE=0.36 g/m3,得到了不同倒伏等***下CCD的空間分布情況。結(jié)果驗證了CCD為利用無人機(jī)高光譜影像進(jìn)行作物倒伏等***評估提供了***種可靠、準(zhǔn)確的方法,且能夠滿足田塊尺度上作物倒伏等***識別的需求,為無人機(jī)高光譜監(jiān)測作物倒伏信息提供了依據(jù)。

原文鏈接:

https://doi.org/10.1016/j.compag.2021.106671
(文章來源于儀器網(wǎng))


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