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美國麥奇克Microtrac Inc
美國麥奇克有限公司（Microtrac Inc.）是世界上著名的激光應(yīng)用技術(shù)研究和制造廠商，前身為Leeds & Northrup 研究所，近半個(gè)世紀(jì)以來，一直領(lǐng)先著激光粒度分析的前沿技術(shù)，可靠的產(chǎn)品和強(qiáng)大的應(yīng)用支持及完善的售后服務(wù)，使得其先進(jìn)的激光粒度分析技術(shù)被廣泛地應(yīng)用于石油，石化，水泥，磨料，冶金，制藥，陶瓷等領(lǐng)域，并成為眾多行業(yè)指定的質(zhì)量檢測和控制的分析儀器。

美國麥奇克有限公司（Microtrac Inc.）以其在激光衍射/散射技術(shù)和顆粒表征方面的獨(dú)到見解，經(jīng)過多年的市場調(diào)研和潛心研究，開發(fā)出最新一代Zetatrac微電場分析技術(shù)，融納米顆粒粒度分布與Zeta電位測量于一體，無需傳統(tǒng)的比色皿，一次進(jìn)樣即可得到準(zhǔn)確的粒度分布和Zeta電位分析數(shù)據(jù)。與傳統(tǒng)的Zeta電位分析技術(shù)相比，Zetatrac采用先進(jìn)的“Y”型光纖探針光路設(shè)計(jì)，配置膜電極產(chǎn)生微電場，操作簡單，測量迅速，無需精確定位由于電泳和電滲等效應(yīng)導(dǎo)致的靜止層，無需外加大功率電場，無需更換分別用于測量粒度和Zeta電位的樣品池，完全消除由于空間位阻（不同光學(xué)元器件間的傳輸損失，比色皿器壁的折射和污染，比色皿位置的差異，分散介質(zhì)的影響，顆粒間多重散射等）帶來的光學(xué)信號的損失，結(jié)果準(zhǔn)確可靠，重現(xiàn)性好。

以研究開發(fā)見長的美國麥奇克有限公司，幾經(jīng)坎坷，在激烈的市場競爭中始終立于不敗之地。尤其是在日本市場，憑借其極高的性價(jià)比，各行業(yè)用戶總數(shù)高達(dá)2,500多臺，成為日本粉體工業(yè)協(xié)會的指定品牌。自2004年底進(jìn)入中國市場以來，作為專業(yè)激光粒度分析儀的領(lǐng)航者，采用最先進(jìn)的光散射/衍射技術(shù)，全自動化的設(shè)計(jì)帶來無與倫比的靈敏度和重復(fù)性，在中國的石油石化，環(huán)?？刂?，材料科學(xué)，國防軍工，航空航天，礦物加工等領(lǐng)域享有很高的聲望。

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The history of Microtrac Inc. includes not only an array of technologically advanced products, but also many significant developments in the field of light scattering as well. The time line below traces the legacy of our technology, our product portfolio, and our company – the originator that introduced laser particle size measurement instruments to the world.

Microtrac instrumentation has come a long way from its humble beginnings embodied in the original Microtrac model 7991. The story began with the development of the laser by Bell Labs in 1959, plus its advancements during ensuing years, and the advent of the first commercially available microprocessor chip (Intel 4004). Below are the salient developments of the continuing Microtrac story that includes more than 20 patents covering light scattering technology.

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