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掃描探針顯微鏡(SPM)/原子力顯微鏡
Sensolytics SECM掃描電化學(xué)顯微鏡
價 格:詢價
產(chǎn) 地:德國更新時間:2020-10-21 14:41
品 牌:Sensolytics型 號:SECM
狀 態(tài):正常點擊量:2958
400-006-7520
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標(biāo)準(zhǔn)配置(Base-SECM):
* 高質(zhì)量的步進(jìn)電極控制三維定位系統(tǒng):25×25×25 mm范圍,1/32μm
(31.25 nm)分辨率。
* 功能強(qiáng)大的PalmSens雙恒電位儀,提供用戶所需的所有電化學(xué)技術(shù)。
可選“高分辨率”(Option High Res)
為改進(jìn)Sensolytics SECM標(biāo)準(zhǔn)配置(Base-SECM)的成像質(zhì)量,模塊選項“高分辨率”提供***個壓電定位系統(tǒng)。它提供1nm分辨率的100×100×100μm掃描范圍,并且包括***個三點傾斜(tilt)補(bǔ)償功能。
可選“微區(qū)阻抗”(Option AC)
為滿足腐蝕科學(xué)增長的需求,模塊選項“微區(qū)阻抗”可以配置到Sensolytics SECM,以進(jìn)行微區(qū)交流阻抗掃描測量。
可選“剪切力”(Option Shearforce)
為了精確分離形貌和電化學(xué)信息,模塊選項“剪切力”可以提供針尖到樣品的分離控制功能。針尖通過復(fù)雜的反饋機(jī)理被控制在高于樣品表面50-300 nm恒定距離(Constant distance)。
主要特點 Sensolytics提供大量的各種不同類型SECM探針電極:盤電極活性表面積在微米和超微米范圍(分別為100-25μm和25-1μm),還提供活性面積低于微米范圍的“納米電極”。
儀器介紹 Sensolytics SECM來自德***波鴻魯爾大學(xué),公司的創(chuàng)立者具有多年掃描電化學(xué)儀器的開發(fā)和應(yīng)用經(jīng)驗。模塊式設(shè)計和利用剪切力(Shearforce)和納米電極進(jìn)行恒距離掃描,為此儀器***為獨特的創(chuàng)新。