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電子顯微鏡(掃描電鏡、透射電鏡)
日本JEOL可移動(dòng)式掃描電子顯微鏡 JCM-5700
價(jià) 格:詢價(jià)
產(chǎn) 地:日本更新時(shí)間:2020-10-20 14:08
品 牌:JEOL型 號(hào):JCM-5700
狀 態(tài):正常點(diǎn)擊量:2648
400-006-7520
聯(lián)系我時(shí),請說明是在上海非利加實(shí)業(yè)有限公司上看到的,謝謝!
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上海非利加實(shí)業(yè)有限公司
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上海自提或三方快遞
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生產(chǎn)現(xiàn)場-研究室用SE
在任何地方都可以使用的高性能可移動(dòng)式SEM
運(yùn)行成本低(長時(shí)間不用維護(hù))
檢查項(xiàng)目-研究題目等各項(xiàng)條件均可記憶
任何人都可以得到良好結(jié)果的高度再現(xiàn)性
可以設(shè)定獨(dú)立的操作條件,使用更加自由的MY SEM
輕松獲得幾萬倍的圖像
簡單友好的操作界面
儀器啟動(dòng)僅需3分鐘
掃描電子顯微鏡(SEM)與光學(xué)顯微鏡和激光顯微鏡相比,具有焦距更深,分辨率更好的特點(diǎn)。相反,得不到象光學(xué)顯微鏡那樣獲得的純自然光澤。我們利用掃描電子顯微鏡的主要特點(diǎn),可以廣泛應(yīng)用于科研和生產(chǎn)。
產(chǎn)品參數(shù)
鮮明的SEM圖像上進(jìn)行高精度測量
從極低倍到高倍,在圖像上就可以直接進(jìn)行長度和角度測量,即在鮮明的圖像上進(jìn)行高精度測量。保存后的圖像也可以用SMile View軟件(選購件)打開并進(jìn)行測量。 | |
3D觀察-測量(選購) 利用掃描電子顯微鏡焦深大的特點(diǎn),可以進(jìn)行立體的高度測量。同一個(gè)視野,傾斜角度改變10°左右,獲得兩張圖像,進(jìn)行高度測量。 | |
不僅可以觀察圖像,還可以進(jìn)行成分分析 不僅可以利用二次電子信息進(jìn)行樣品表面觀察,還可以利用背散射電子成份襯度像進(jìn)行異物及多層膜觀察。另外,還可以使用能量分散型光譜儀(EDS)進(jìn)行元素分析。日本電子產(chǎn)能譜儀JED-2300可以與主機(jī)實(shí)現(xiàn)一體化,將點(diǎn)鏡擴(kuò)展為分析型點(diǎn)鏡。 |
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