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Carl Zeiss SMT EVO MA 25多功能掃描電子顯微鏡
價(jià) 格:詢價(jià)
產(chǎn) 地:德國(guó)更新時(shí)間:2020-10-20 14:04
品 牌:蔡司型 號(hào):EVO MA 25
狀 態(tài):正常點(diǎn)擊量:2988
上海非利加實(shí)業(yè)有限公司
聯(lián) 系 人: 上海非利加實(shí)業(yè)有限公司
電 話: 400-006-7520
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配送方式: 上海自提或三方快遞
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***大樣品高度可達(dá)210 mm
***大樣品重量可達(dá)5 kg
***大樣品直徑可達(dá)300 mm
可變壓力操作
可選配高亮度的LaB6
可選配BeamSleeve?
樣品臺(tái)Z軸移動(dòng)范圍達(dá)50mm,X軸Y軸均在130mm
通過樣品的數(shù)字化圖像導(dǎo)航
針對(duì)X射線分析而改善的LaB6 成像
支持兩個(gè)樣品室觀察裝置
分辨率 | 3 nm (2 nm) @ 30 kV - SE 與 W (LaB6) 4.5 nm @ 30 kV - BSD (VP 模式) 20 nm (15 nm) @ 1 kV - SE 與 W (LaB6) 10 nm @ 3 kV - SE |
加速電壓 | 0.2 – 30kV |
放大倍數(shù) | <5 - 1,000,000 × |
視野 | 分析工作距離(AWD)時(shí)為6mm |
X射線分析 | 分析工作距離8.5mm,出射角35° |
OptiBeam?*模式 | 分辨率、景深、分析、大視野、魚眼 |
壓力范圍 | 10 - 400 Pa |
可以使用的探測(cè)器 | BSD — 多象限半導(dǎo)體二極管 ETSE — Everhart-Thornley二次電子探測(cè)器 VPSE — 可變壓力二次電子探測(cè)器 SCD — 樣品電流探測(cè)器 |
樣品室 | 420 mm (?) × 330 mm (h) |
5軸電動(dòng)樣品臺(tái) | X = 130 mm Y = 130 mm Z = 50 mm T = 0 - 90° R = 360°(連續(xù)) |
樣品臺(tái)控制方式:鼠標(biāo)或操縱桿(選配)、操作控制板(選配) | |
樣品***大高度 | 210 mm |
MA系列今后保證的升*** | BeamSleeve?、擴(kuò)展壓力、水蒸氣VP模式 |
圖像幀存儲(chǔ) | 3072×2304像素,信號(hào)采集方式有積分與平均兩類 |
操作界面 | SmartSEM?**圖形用戶界面,鍵盤鼠標(biāo)操作 Windows?XP多語(yǔ)言操作系統(tǒng) |
水電要求 | 100 – 240V、50或60 Hz 單相、無(wú)需水冷 |
OptiBeam?*—以主動(dòng)式鏡筒控制實(shí)現(xiàn)***佳分辨率、***佳景深或者***佳視野 SmartSEM?**—用于掃描電鏡控制的第五代圖形用戶界面 |