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掃描探針顯微鏡(SPM)/原子力顯微鏡
高精度大樣品臺掃描探針顯微鏡L-trace
價 格:詢價
產(chǎn) 地:日本更新時間:2020-10-20 13:44
品 牌:SII型 號:L-trace
狀 態(tài):正常點擊量:1328
400-006-7520
聯(lián)系我時,請說明是在上海非利加實業(yè)有限公司上看到的,謝謝!
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上海非利加實業(yè)有限公司
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配送方式:
上海自提或三方快遞
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特點
1.滯后、蠕變影響小的閉環(huán)掃描器搭載。測定部分的移動或是掃描方向的旋轉(zhuǎn)之后,也可以得到正確的畫像。
2.新功能SIS模式配合鈉米碳管探針,能夠正確的測定以往不易測定的急、陡斷面的樣品。
3.標準裝配6英寸大型樣品臺,可對150mmφ的樣品全面的觀察。(200mmφ樣品臺為可選)
4.搭載探針自動更換功能,測定導向功能。
5.登錄模式可實現(xiàn)自動測定,可設定***大20個測定點及各自測定條件下的自動測定。***適合重復的測定。
產(chǎn)品參數(shù)
檢測系統(tǒng)光杠桿式掃描系統(tǒng)搭載閉環(huán)掃描器分辨率·面內(nèi):0.5nm·垂直:0.05nm樣品尺寸150mmφ(200mmφ可選)樣品移動機構(gòu)高精度電動XY樣品臺掃描范圍SIS(Sampling Intelligent Scan)模式適用其它·探針狀態(tài)評價功能·探針自動切換功能
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產(chǎn)品介紹
產(chǎn)品介紹:
滯后、蠕變影響小的閉環(huán)掃描器搭載。配合新功能SIS掃描模式及鈉米碳管探針,即使是高段差的樣品也可以準確的測定。標準配置的6英寸的大型樣品臺(8英寸樣品臺可選)。