英國(guó)AQUILA公司NKD7000/8000系列薄膜分析系統(tǒng)
價(jià) 格:詢(xún)價(jià)
產(chǎn) 地:英國(guó)更新時(shí)間:2020-10-22 15:07
品 牌:Aquila Instruments型 號(hào):NKD7000/8000
狀 態(tài):正常點(diǎn)擊量:1893
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英***Aquila公司是世界***的薄膜分析解決方案供應(yīng)商。
其N(xiāo)KD系列薄膜分析系統(tǒng)是世界上第***臺(tái)專(zhuān)為表征和分析薄膜涂層和基片而設(shè)計(jì)的光譜儀。適合測(cè)量多層薄膜的光學(xué)性能n(折射指數(shù))和k(消光系數(shù)),以及d(厚度)。
適合多種薄膜材料:介電、聚合物、半導(dǎo)體和金屬。
主要應(yīng)用在光學(xué)涂層, 半導(dǎo)體加工, 平板顯示器, 數(shù)據(jù)存儲(chǔ)產(chǎn)品, 建筑和高附加值玻璃, 包裝和裝飾材料, 光電器件等領(lǐng)域。
選件豐富,包括軟件選擇入射偏振光及其角度,甚至直徑大到100mm的樣品的X-Y方向上的自動(dòng)掃描呈像。
技術(shù)參數(shù):
1.波長(zhǎng)范圍:280nm-2300nm
2.光譜分辨率:1或2nm (可選)
3.層數(shù):多層
4.薄膜厚度范圍:5nm - 20μm
5.基體:透明,半透明或半吸收
主要特點(diǎn):
1.同時(shí)測(cè)量反射和透射光譜
2.***體化的控制和分析軟件,計(jì)算基體中的多種反射
3.數(shù)據(jù)分析可選用***系列散射模型
4.內(nèi)置涂層性能數(shù)據(jù)庫(kù),可編輯,可擴(kuò)展
5.變角度測(cè)量,微光斑測(cè)量,樣品可控溫,樣品掃描測(cè)試
產(chǎn)品樣本:
NKD8000 中文樣本