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德國KSI 型 全自動(dòng)晶圓超聲波缺陷檢測(cè)系統(tǒng)

價(jià)  格：詢價(jià)

產(chǎn)  地：更新時(shí)間：2021-01-18 15:00

品  牌：型  號(hào)：i-Wafer

狀  態(tài)：正常點(diǎn)擊量：2461

400-006-7520
聯(lián)系我時(shí)，請(qǐng)說明是在上海非利加實(shí)業(yè)有限公司上看到的，謝謝！

上海非利加實(shí)業(yè)有限公司

聯(lián) 系 人： 上海非利加實(shí)業(yè)有限公司

電   話： 400-006-7520

傳   真： 400-006-7520

配送方式： 上海自提或三方快遞

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 德***KSI-凱斯安i-Wafer型

全自動(dòng)晶圓超聲波缺陷檢測(cè)系統(tǒng)

 

i-Wafer系列是***款高端儀器，操作人員可選擇接收/拒絕標(biāo)準(zhǔn)，手動(dòng)或自動(dòng)檢測(cè)晶圓。在KSI i-Wafer的探測(cè)下，晶圓中的孔隙、分層或者雜質(zhì)都能被發(fā)現(xiàn)。尺寸在450mm的多種晶圓也能進(jìn)行檢測(cè)


新型KSI i-Wafer晶圓缺陷檢測(cè)系統(tǒng)的主要特點(diǎn)：
- 掃描速度達(dá)2000mm/s
- 新型換能器
- 高質(zhì)畫面
- 同時(shí)使用1只、2只、4只換能器提高效能
- 能發(fā)現(xiàn)只有幾微米的缺陷

 



German ksi-kassian i-wafer type

Automatic wafer ultrasonic defect detection system

 

The i-wafer series is a high-end device for which the operator has the option of receiving/rejecting the standard ａnd checking the Wafer manually or automatically.Under the detection of the KSI i-wafer, pores, layers or impurities in the Wafer can be found.A variety of wafers with a size of 450mm can also be tested




產(chǎn)品參數(shù)


產(chǎn)品介紹



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