二十多年來,基于日漸完善的Gemini技術(shù),GeminiSEM具有完整高效的檢測系統(tǒng)、極高的分辨率以及簡便的操作方式。Gemini物鏡設(shè)計(jì)將靜電場與磁場結(jié)合,可在限度地提升光學(xué)性能的同時(shí)將場發(fā)射對(duì)樣品的損傷降至。此設(shè)計(jì)確保了極佳的成像質(zhì)量,即使是較具挑戰(zhàn)性的磁性材料也同樣可以達(dá)到良好的成像效果。通過二次電子和背散射電子的檢測也使得高效率的信號(hào)探測成為可能。探測器安裝在光軸上,可以減少調(diào)整時(shí)間,并可限度地降低成像時(shí)間。Gemini電子束加速器技術(shù)確保了小的探針尺寸和高的信噪比,以達(dá)到超低的加速電壓。
【技術(shù)參數(shù)】
分辨率: 0.8nm @15 kV 1.4 nm @1kV
放大倍數(shù):12-2,000,000×
加速電壓:調(diào)整范圍:0.02-30 kV(無需減速模式實(shí)現(xiàn))
探針電流: 3pA-20nA(100nA可選)
低真空范圍: 10-500Pa (GeminiSEM300 VP可用)
樣品室: 330 mm(φ),270 mm(h)
樣品臺(tái):5軸優(yōu)中心全自動(dòng)
X=130mm
Y=130mm
Z=50 mm
T=-3o-70o
R=360o 連續(xù)
系統(tǒng)控制:基于Windows 7的SmartSEM操作系統(tǒng),可選鼠標(biāo)、鍵盤、控制面板控制
【產(chǎn)品應(yīng)用】
掃描電鏡(SEM)廣泛地應(yīng)用于金屬材料(鋼鐵、冶金、有色、機(jī)械加工)和非金屬材料(化學(xué)、化工、石油、地質(zhì)礦物學(xué)、橡膠、紡織、水泥、玻璃纖維)等 檢驗(yàn)和研究。在材料科學(xué)研究、金屬材料、陶瓷材料、半導(dǎo)體材料、化學(xué)材料等領(lǐng)域進(jìn)行材料的微觀形貌、組織、成分分析,各種材料的形貌組織觀察,材料斷口分 析和失效分析,材料實(shí)時(shí)微區(qū)成分分析,元素定量、定性成分分析,快速的多元素面掃描和線掃描分布測量,晶體、晶粒的相鑒定,晶粒尺寸、形狀分析,晶體、晶 粒取向測量。