熱門詞: 進(jìn)口電動(dòng)溫度調(diào)節(jié)閥結(jié)構(gòu)圖|進(jìn)口電動(dòng)溫度調(diào)節(jié)閥數(shù)據(jù)表進(jìn)口電動(dòng)高溫調(diào)節(jié)閥-德國(guó)進(jìn)口電動(dòng)高溫法蘭調(diào)節(jié)閥進(jìn)口電動(dòng)蒸汽調(diào)節(jié)閥-德國(guó)進(jìn)口電動(dòng)蒸汽調(diào)節(jié)閥
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現(xiàn)在位置:首頁(yè)>光學(xué)儀器>電子顯微鏡> 掃描電子顯微鏡(SEM)
價(jià) 格:詢價(jià)
產(chǎn) 地:更新時(shí)間:2021-01-18 15:05
品 牌:型 號(hào):Q25/Q45
狀 態(tài):正常點(diǎn)擊量:2528
聯(lián) 系 人: 上海非利加實(shí)業(yè)有限公司
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對(duì)于失效分析、質(zhì)量控制和材料表征而言、Q25是*經(jīng)濟(jì)、效的高分辨成像和分析應(yīng)用的解決方案。在設(shè)計(jì)上側(cè)重易用性、Q25可以讓用戶迅速得到他們所需的數(shù)據(jù)。 為應(yīng)對(duì)不導(dǎo)電樣品、Q25提供了低真空模式下的高性能、消除了對(duì)專用的樣品制備步驟或者附加的樣品鍍膜儀的需求。Q25樣品室的設(shè)計(jì)和真空系統(tǒng)能夠快速更換樣品、允許日常高效、快速檢測(cè)樣品。 為滿足客戶對(duì)大樣品或塊狀樣品的要求、Q45提供了更大的真空樣品室和100mm的樣品臺(tái)行程。另外、Q45加上了環(huán)境掃描(ESEM)模式、擴(kuò)展了SEM的成像和分析功能到加熱、含水或放氣的樣品。
? 簡(jiǎn)單易用,即使是新手利用直觀的軟件可實(shí)現(xiàn)高效操作。 ? 利用穩(wěn)定的高束流(上至2 μA)電子束可以迅速獲得精確的分析結(jié)果。 ?快速輕松表征導(dǎo)電和非導(dǎo)電樣品 ? 支持可選的分析功能。利用獨(dú)有的多***穿過(guò)透鏡的真空系統(tǒng)在高真空和低真空下使導(dǎo)電樣品和不導(dǎo)電樣品的精確EDS分析成為可能。 ? Q45 SEM: 采用為ESEM選配的帕爾貼冷臺(tái)可在樣品的自然含水狀態(tài)下完成樣品的動(dòng)態(tài)原位分析。
High vacuum
3.0 nm at 30 kV (SE)
4.0 nm at 30 kV (BSE)*
8.0 nm at 3 kV (SE)
Low vacuum
4.0 nm at 30k V (BSE)*
10 nm at 3 kV (SE)
*optional
High vacuum with beam deceleration option 7.0 nm at 3 kV(BD mode* + vCD*)
Extended vacuum mode (ESEM)3.0 nm at 30 kV (SE)
日本電子掃描電子顯微鏡
韓國(guó)SEC掃描電子顯微鏡
日本JEOL 電子探針顯微分析儀
日本JEOL 軟X射線分析譜儀
日本JEOL 截面樣品拋光儀
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