原子力顯微鏡(Atomic force microscopy)是***種以物理學(xué)原理為基礎(chǔ),通過掃描探針與樣品表面原子相互作用而成像的新型表面分析
儀器。***般原子力顯微鏡利用探針對(duì)樣品掃描,探針固定在對(duì)探針與樣品表面作用力極敏感的微懸臂上。懸臂受力偏折會(huì)引起由激光源發(fā)出的激光束經(jīng)懸臂反射后發(fā)生位移。檢測(cè)器接受反射光,*后接受信號(hào)經(jīng)過計(jì)算機(jī)系統(tǒng)采集、處理、形成樣品表面形貌圖像。
產(chǎn)品特點(diǎn):計(jì)算機(jī)全數(shù)字化控制,操作簡(jiǎn)捷直觀。
步進(jìn)馬達(dá)自動(dòng)進(jìn)行針尖--樣品逼近,保證實(shí)驗(yàn)圓滿成功。
深度陡度測(cè)量,三維顯示。
納米材料粗糙度測(cè)量、顆粒徑度測(cè)量及分布統(tǒng)計(jì)。
X、Y二維樣品移動(dòng)平臺(tái),快速搜索樣品區(qū)域.
標(biāo)準(zhǔn)RS232串行接口,無需任何計(jì)算機(jī)卡
樣品觀測(cè)范圍從0.001um-20000um。
掃描速度達(dá)40000點(diǎn)/秒
可選配納米刻蝕功能模塊。
技術(shù)指標(biāo): AFM探頭
樣品尺寸:直徑小等于30mm;厚度小等于15mm。
XY掃描范圍:標(biāo)準(zhǔn)6X6微米
0.25nm
0.03nm(云母定標(biāo))
XY二維樣品移動(dòng)范圍:5mm;精度0.5微米
掃描器、針尖座智能識(shí)別
44-283X連續(xù)變倍彩色CCD顯微觀察系統(tǒng)(選配)
AFM電化學(xué)針尖塊,液電池,液體輕敲式成像功能(選配)
全金屬屏蔽防震隔音箱/精密隔震平臺(tái)(選購(gòu)