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德國BMT AFM 2000/3000/4000 原子力顯微鏡

價  格:詢價

產  地:更新時間:2021-01-18 15:15

品  牌:型  號:AFM 2000/3000/4000

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德***BMT AFM 2000/3000/4000 原子力顯微鏡

 

德***BMT AFM原子力顯微鏡

在當今工業(yè)生產中對納米***表面結構的了解日益重要。這些應用包含了從內燃機磨損到新型潤滑涂層和防腐蝕保護層,以及現(xiàn)代車用噴漆,從半導體工業(yè)到醫(yī)用技術。傳統(tǒng)方法已經無法處理上述的長度空間。但同時可以看到,對表面、涂層和功能材料表面盡可能全面地就性能進行描述日益成為工業(yè)界和科研機構的迫切需求,例如在局部極小的尺寸內對化學反應過程,腐蝕和磨損進行觀察等等。原子力顯微鏡作為極其靈活的圖像檢測方法尤其適合這些應用,它的測量范圍覆蓋了從0.2毫米到微米納米直至原子晶體結構。而這樣大的測量范圍只需使用同***臺設備。隨著BMT多用掃描儀AFM 3000的研制成功,市場上終于出現(xiàn)了***臺掃描原子力顯微鏡,它的突出特點是模塊化結構、高度靈活性而且操作極其簡便。它獨特的測量模塊運用了化學對比度成像(Chemical Contrast Imaging (CCI-AFM) ,這種新技術可以檢測到表面極其微量的化學變化,這樣就可以跟蹤腐蝕、磨損、氧化等等物理和化學反應實際發(fā)生的位置,這些反應通常正是在微米和納米尺度上。用多用成像軟件包可以在多個采集點上同時采集圖像信息:從采樣點表面形貌到摩擦,磨損和接觸剛性,***直到化學對比度。


主要特點:

·           操作極其簡便,用戶控制,模塊化構造

·           多用掃描 測量頭,就極高的穩(wěn)定性作了優(yōu)化

·           多測量模式選擇接觸模式,非接觸模式,震蕩接觸模式,力調制顯微鏡,摩擦顯微鏡和粘合顯微鏡,力譜儀,相位對比度。使用同***個測量頭可達到的掃描范圍從納米***到面積為 200 µm x 200µm

·           包括化學對比度成像 (CCI-AFM) 模式

·           包括保護氣體選項

·           可直接在樣品實地的溫度和濕度條件下測量

·           包括可在液體中測量的工作方式

·           極有用途的附加模塊包括:納米電鍍(GalvanoScan)、納米摩擦和磨損檢測 (TriboScan) 以及腐蝕 (CorroScan) 和納米構造 (LithoScan)

·           可按用戶需要提供相匹配的軟件模塊,根據(jù)特殊要求可提供應用實例

 

技術數(shù)據(jù):

試樣尺寸

25 mm x 25 mm

調節(jié)距離

x,y方向可達20 mm x 20 mm                               

步進電機

z方向可達15 mm 

環(huán)境條件

普通環(huán)境條件常規(guī)運行(接觸空氣,室溫);此外也可在保護氣體和液體中工作

掃描儀

X、 yz方向壓電掃描。 掃描范圍x,y方向可達 800μm  

分辨率

可達原子尺度 

步進電機

15 mm行程 

通道

從上方和側向有備用通道:例如安裝拉曼光譜設備

電子元件

數(shù)字控制器,PC機經USB接口驅動 

軟件

用戶友好的測量和分析軟件包 

數(shù)據(jù)采集

并行采集顯示多個測量通道(例如 表面形貌和化學對比度)

數(shù)據(jù)分析

功能全面的圖像處理和數(shù)據(jù)分析軟件(包含統(tǒng)計函數(shù)、粗糙度分析等等)

 

 


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