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NT-MDT多功能自動(dòng)化AFM-Raman-TERS和SNOM系統(tǒng)

價(jià)  格:詢價(jià)

產(chǎn)  地:更新時(shí)間:2021-01-18 15:16

品  牌:型  號(hào):NTEGRA SPECTRA II

狀  態(tài):正常點(diǎn)擊量:2709

400-006-7520
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配送方式: 上海自提或三方快遞

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NTEGRA Spectra II

多功能自動(dòng)化的AFM-Raman-TERSSNOM系統(tǒng)

主要特點(diǎn):

o    多功能高性能原子力顯微鏡

o    可從頂部,側(cè)面和底部引入光路進(jìn)行近場光學(xué)、拉曼和TERS測試

o    靈活的光路設(shè)計(jì)可以進(jìn)行激發(fā)/收集測試

o    全自動(dòng)的激光-懸臂-位置接收器調(diào)節(jié)

o    友好的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),使得更換原子力顯微鏡激光光路模塊非常便捷

o    更換物鏡非常方便

o    可集成IR s-SNOM (可選)

 

1998年以來,NT-MDT已成功的將原子力顯微鏡與光學(xué)顯微鏡和光譜技術(shù)相結(jié)合,支持30多種基本和高***的原子力顯微鏡模式,包括Hybrid ModeTM模式,能提供關(guān)于樣品表面物理特性的廣泛信息。原子力顯微鏡與共焦拉曼/熒光顯微鏡的集成更能進(jìn)***步提供有關(guān)樣品的*廣泛的附加信息。

在同***樣品區(qū)同時(shí)進(jìn)行原子力顯微鏡(AFM)和拉曼(Raman)測量提供了有關(guān)樣品物理性質(zhì)AFM和化學(xué)成分Raman的補(bǔ)充信息。

NTEGRA Spectra II在針尖增強(qiáng)拉曼散射(TERS)的幫助下,可以進(jìn)行具有納米尺度分辨率的光譜/顯微術(shù)。特別制備的原子力顯微鏡探針(納米天線)可用于增強(qiáng)和局域化探針尖端附近納米尺度區(qū)域的光信號(hào)。

這種納米天線作為光的納米源,提供了分辨率小于衍射極限(可達(dá)10 nm)的光學(xué)成像的可能性。掃描近場光學(xué)顯微鏡(SNOM)是另***種獲得光學(xué)活性樣品的光學(xué)和光譜圖像的方法,其分辨率受探針孔徑大?。?/span>~100 nm)的限制。



TERS激發(fā)/檢測配置


孔徑式掃描近場光學(xué)顯微鏡


應(yīng)用

o    光學(xué)器件特性:半導(dǎo)體激光器,光纖,波導(dǎo),等離子體器件

o    細(xì)胞組織、DNA、病毒和其他生物物體的研究

o    化學(xué)反應(yīng)控制

o    石墨烯、碳納米管和其他碳材料

o    半導(dǎo)體器件

o    納米管、納米線、量子點(diǎn)和其他納米材料

o    高聚物

 

由于所有的步進(jìn)運(yùn)動(dòng)器與光學(xué)圖像耦合在***起,接下來提供自動(dòng)對焦、快速***擊懸臂對齊、全景光學(xué)視圖和5×5mm范圍內(nèi)的多次掃描

                   

              Graphene flakes 30x30 um        Ni foil 20x20 um

                    

              PC-PVAC film 30x30 um            MoO3 30x30 um

完全自動(dòng)化

原子力顯微鏡提供電動(dòng)樣品定位和集成高分辨率光學(xué)顯微鏡定位、電動(dòng)連續(xù)變焦和光學(xué)顯微鏡聚焦。強(qiáng)大的Nova Px軟件算法消除了光學(xué)顯微鏡和原子力顯微鏡之間的差距,提供了從全景光學(xué)視圖到原子分辨的連續(xù)縮放。

由于所有的步進(jìn)馬達(dá)與光學(xué)圖像耦合在***起,因此儀器能提供自動(dòng)對焦、快速***鍵懸臂光斑對齊、全景光學(xué)視圖和5×5mm范圍內(nèi)的多次掃描等等自動(dòng)化功能。

CdS納米線

通過導(dǎo)電聚合物納米線將CdS納米線與金屬電極連接起來。在光學(xué)顯微鏡的幫助下,AFM探針被放置在樣品結(jié)構(gòu)上。由于原子力顯微鏡的探針非常尖,激光可以直接定位在針尖上。

高分辨率AFM圖像提供了有關(guān)樣品形貌的信息。來自同***區(qū)域的拉曼光譜和發(fā)光圖譜顯示出納米線的化學(xué)成分不同。

                   

              Topography            Raman map (conductive polymer nanowires)

                      

            Photoluminescence (CdS)   Raman and PL spectrum of CdS nanowire

樣品提供者:Prof. R. Carpick, Penn State University. 掃描范圍:20x20 μm


Si/SiO2 上的石墨烯片層

 

                    

              Topography                                G band intensity

                    

              2D band intensity                       Raman spectra


液相下的TERS

NT-MDT NTEGRA Spectra II 已經(jīng)成功的用正置模式(即頂部光路激發(fā)),在液體中獲得了不透明的金襯底上有機(jī)染料樣品層的針尖增強(qiáng)拉曼散射(TERS)結(jié)果。

TERS在液體中比大氣環(huán)境中要復(fù)雜得多,主要是精密的光學(xué)對準(zhǔn),以實(shí)現(xiàn)激光束在AFM探針尖端的精確聚焦,并確保有效地收集散射信號(hào),特別是還要通過***層液體。在倒置光學(xué)顯微鏡上放置透明樣品時(shí),激光束很容易透過樣品直接聚焦到TESR探針上。


實(shí)驗(yàn)中,在光學(xué)原子力顯微鏡測量頭部,采用60×長距離(工作距離:2mm)、高數(shù)值孔徑(N.A.=1)水鏡,激發(fā)光采用偏振激光器(λexc=632.8 nm)。由此,AFM針尖座可以安裝在物鏡和樣品之間。然后可以通過振鏡來實(shí)現(xiàn)激光光斑的掃描。

在圖中給出了信號(hào)的增強(qiáng)譜和探針尖端峰的增強(qiáng)譜,并證實(shí)了在熱點(diǎn)位置附近信號(hào)的強(qiáng)增強(qiáng)。

而對于需要頂部或側(cè)面照明/采集的不透明樣品,光信號(hào)在每個(gè)界面上都會(huì)因折射而偏離并大大衰減。

使用水浸式物鏡是避免空氣-液體表面折射和實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定光程的可能途徑。NTEGRA SPECTRA 提供AFM光束偏轉(zhuǎn)系統(tǒng)通過與拉曼激光器相同目標(biāo)工作的可能性的儀器



HybriD Mode?

具有全新的電子學(xué)設(shè)備和軟件系統(tǒng)的NTEGRA SPECTRA II可以將*近開發(fā)的用于樣品納米機(jī)械特性表征的HybirD?HD-AFM? Mode)和用于在單次測量過程中對同***區(qū)域進(jìn)行化學(xué)成像的拉曼技術(shù)結(jié)合起來。

由于所有的步進(jìn)馬達(dá)與光學(xué)圖像耦合在***起,因此儀器能提供自動(dòng)對焦、快速***鍵懸臂光斑對齊、全景光學(xué)視圖和5×5mm范圍內(nèi)的多次掃描等等自動(dòng)化功能。

                    

             Stiffness of HDPE/LDPE polymer           Overlap of Raman maps: HDPE

             sandwich cut by microtome                  (red), LDPE (blue

AFM topography

Image size: 34 × 34 μm Data from: M. Yanul, S. Magonov, P. Dorozhkin, NT-MDT.


NTEGRA SPECTRA II工作原理

o    新的光路方案由三個(gè)獨(dú)立的樣品激發(fā)通道組成:從上、側(cè)、下三個(gè)方向。每個(gè)通道都被開發(fā)成獨(dú)立的模塊。

o    樣品激發(fā)方向易于相互交換。信號(hào)收集可以通過激發(fā)光通道或通過不同的光通道進(jìn)行。

o    開放式設(shè)計(jì)為系統(tǒng)定制提供了良好的基礎(chǔ)。每個(gè)特定的通道都允許用放大倍數(shù)高達(dá)200x的物鏡觀察樣品,用激光束激發(fā)樣品,用聚焦激光光斑掃描樣品。

o    激發(fā)波長范圍從325 nm1064 nm*

*其他波長范圍可選

 

o    AFM位置檢測激光系統(tǒng)獨(dú)立于拉曼物鏡,這使得物鏡的快速更換變得更加容易。

o    自動(dòng)化AFM激光、懸臂和四象限位置傳感器對齊,讓用戶對儀器的操作變得非常簡便。

o    AFM位置檢測激光系統(tǒng)波長便捷更換,使得用戶可根據(jù)樣品的特性隨心所欲的更換任何波長的拉曼激發(fā)或收集波長。

o    獨(dú)立的光路系統(tǒng)可根據(jù)用戶需求,與市場上幾乎所有的拉曼光譜儀結(jié)合在***起,組成完整的AFM-Raman系統(tǒng)。

o    光譜儀可配備多種探測設(shè)備,如:PMT、APDCCD等,可同時(shí)獲得樣品的瑞利光學(xué)圖像和拉曼光譜圖。



產(chǎn)品參數(shù)


產(chǎn)品介紹




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