PHL應(yīng)力雙折射儀 PA-200
價 格:詢價
產(chǎn) 地:更新時間:2021-01-21 10:50
品 牌:其他型 號:PA-200-L
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產(chǎn)品介紹
PHL應(yīng)力雙折射儀 PA-200
主要簡介:
PA系列是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應(yīng)力測量儀,PA系列測量雙折射測量范圍達(dá)0-130nm,可以測量的樣品范圍從幾個毫米到近500毫米。PA系列雙折射測量儀以其專利技術(shù)的光子晶體偏光陣列片,獨有的雙折射算法設(shè)計制造,得到每片樣品僅需幾秒鐘的測量能力,使其成為業(yè)內(nèi),特別是工業(yè)界雙折射測量/應(yīng)力測量的選擇。
主要特點:
應(yīng)用領(lǐng)域:
光學(xué)鏡片、手機鏡頭
智能手機玻璃基板
碳化硅,藍(lán)寶石等
技術(shù)參數(shù):
項次 | 項目 | 具體參數(shù) |
1 | 輸出項目 | 相位差【nm】,軸方向【°】,相位差與應(yīng)力換算(選配)【MPa】 |
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2 | 測量波長 | 520nm |
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3 | 雙折射測量范圍 | 0-130nm |
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4 | 測量***小分辨率 | 0.001nm |
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5 | 測量重復(fù)精度 | <1nm(西格瑪) |
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6 | 視野尺寸 | 27x36mm到99x132mm(標(biāo)準(zhǔn)) |
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7 | 選配鏡頭視野 | 低至7x8.4(擴束鏡頭) |
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8 | 選配功能 | 實時解析軟件,鏡片解析軟件,數(shù)據(jù)處理軟件,實現(xiàn)外部控制
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