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PHL雙折射測量系統(tǒng)WPA200

主要簡介：   

  WPA系列可測量相位差高達(dá)3500nm，適合PC高分子材料，是Photonic lattic公司以其光子晶體制造技術(shù)開發(fā)的產(chǎn)品，獨特的測量技術(shù)，高速而又精確的測量能力使其成為不可多得的光學(xué)測量產(chǎn)品。 該產(chǎn)品在測量過程中可以對視野范圍內(nèi)樣品***次測量，全面掌握應(yīng)力分布。WPA-200型更是市場上***適合用來測量光學(xué)薄膜或透明樹脂。量化測量結(jié)果，二維圖表可以更直觀的讀取數(shù)據(jù)。

 主要特點:

• 操作簡單，測量速度可以快到3秒。

• 采用ＣＣＤ Camera，視野范圍內(nèi)可***次測量，測量范圍廣。

• 測量數(shù)據(jù)是二維分布圖像，可以更直觀的讀取數(shù)據(jù)。

• 具有多種分析功能和測量結(jié)果的比較。

• 維護(hù)簡單，不含旋轉(zhuǎn)光學(xué)濾片的機構(gòu)。

• 市場占有率高的殘余應(yīng)力測量設(shè)備。
  

 主要應(yīng)用： 

· 光學(xué)零件（鏡片、薄膜、導(dǎo)光板）

· 透明成型品（車載透明零件、食用品容器）

· 透明樹脂材料（PET PVA COP ACRYL PC PMMA APEL COC）

· 透明基板（玻璃、石英、藍(lán)寶石、單結(jié)晶鉆石）

· 有機材料（球晶、FishEve）

 
技術(shù)參數(shù)：